隨著半導體器件特征尺寸的不斷縮小，等離子體工藝中的電弧放電問題日益突出。微小的電弧不僅可能損壞設(shè)備，還會導致產(chǎn)品缺陷，甚至造成生產(chǎn)中斷。如何實時監(jiān)測等離子體狀態(tài)和晶圓蝕刻程度，快速檢測電弧并優(yōu)化工藝，成為半導體制造中的一大挑戰(zhàn)。

英福康射頻傳感技術(shù)提供了強大的解決方案：Sion™射頻探測器，提供連續(xù)反饋，確保精確的端點檢測，避免過度蝕刻和材料浪費；ADC100電弧檢測器，擁有超卓的電弧檢測技

術(shù)，在維護生產(chǎn)效率的同時保護設(shè)備；協(xié)力幫助客戶提升生產(chǎn)效率、減少停機時間，并確保產(chǎn)品質(zhì)量。

Sion™：等離子體工藝的“實時衛(wèi)士”

Sion™是一款非侵入式射頻探測器，專為高速電弧檢測和工藝終點控制設(shè)計。它適用于多種等離子體輔助工藝，如電離物理氣相沉積 (iPVD)、等離子增強化學氣相沉積 (PECVD) 和

蝕刻工藝，能夠?qū)崟r檢測電弧工藝，確保工藝穩(wěn)定性和產(chǎn)品良率。

Sion™的核心優(yōu)勢在于：

實時電弧檢測：以高達250 kHz的數(shù)據(jù)采集頻率，快速捕捉微電弧事件，防止對靶材、腔室和基材造成損害。

非侵入式安裝：采用卡箍式設(shè)計，可輕松集成到現(xiàn)有工具箱中。

智能數(shù)據(jù)分析：與FabGuard數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)無縫集成，提供全面的數(shù)據(jù)管理和分析功能，幫助優(yōu)化工藝參數(shù)。

ADC100：直流電弧的“高速捕手”

ADC100同樣是一款非侵入式的高速直流電弧檢測設(shè)備，通過連接DC供電系統(tǒng)，可實時監(jiān)測等離子體中的電弧事件，并在出現(xiàn)問題時迅速中斷晶圓生產(chǎn)過程，防止硬件或產(chǎn)品損壞。

ADC100的亮點功能包括：

高速響應(yīng)：每個通道的數(shù)據(jù)采集頻率高達250 kHz，確保對電弧事件的快速檢測和響應(yīng)；其內(nèi)配置的預定義分析工具也能確保檢測效率。

終點檢測功能：不僅能夠檢測電弧，還能優(yōu)化工藝終點控制，減少過度蝕刻和材料浪費。

全球技術(shù)支持：英福康提供全球范圍的技術(shù)支持，確保ADC100在不同地區(qū)的應(yīng)用中都能發(fā)揮最佳性能。

智能數(shù)據(jù)分析：與FabGuard數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)無縫集成，提供全面的數(shù)據(jù)管理和分析功能，幫助優(yōu)化工藝參數(shù)。 如果您正在尋找一種能夠提升生產(chǎn)效率、減少停機時間并確保產(chǎn)品質(zhì)量的半導體等離子體工藝監(jiān)測解決方案，英?？档纳漕l傳感技術(shù)將是您的理想選擇。