內(nèi)校分析電子天平是一種具備自動(dòng)校準(zhǔn)功能的高精度稱(chēng)量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室、制藥、化工等領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢(shì)在于無(wú)需外部砝碼即可實(shí)現(xiàn)快速校準(zhǔn),確保稱(chēng)量結(jié)果的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
核心結(jié)構(gòu)與原理:
1.內(nèi)部校準(zhǔn)砝碼:
內(nèi)置高精度砝碼(如100g或200g),通常位于天平底部或側(cè)面。
材質(zhì)為不銹鋼或特殊合金,經(jīng)過(guò)激光校準(zhǔn),精度可達(dá)±0.01%。
2.傳感器技術(shù):
電磁力平衡傳感器:通過(guò)電磁力補(bǔ)償樣品重量,實(shí)現(xiàn)快速響應(yīng)。
應(yīng)變片傳感器:利用金屬應(yīng)變片的形變測(cè)量重量,適合靜態(tài)稱(chēng)量。
3.自動(dòng)校準(zhǔn)流程:
觸發(fā)條件(定時(shí)/溫度變化/開(kāi)機(jī)):天平自動(dòng)加載內(nèi)部砝碼。
傳感器檢測(cè)砝碼重量,與預(yù)設(shè)值對(duì)比。
調(diào)整內(nèi)部參數(shù)(如增益、偏移量),完成校準(zhǔn)。
校準(zhǔn)結(jié)果記錄并顯示(如“CAL Done”)。
內(nèi)校電子天平與外校天平的對(duì)比:
內(nèi)校電子天平與外校天平的對(duì)比:
對(duì)比項(xiàng) | 內(nèi)校天平 | 外校天平 |
校準(zhǔn)方式 | 自動(dòng)加載內(nèi)部砝碼 | 需手動(dòng)放置外部砝碼 |
便捷性 | 高(適合實(shí)驗(yàn)室高頻使用) | 低(依賴(lài)外部砝碼管理) |
校準(zhǔn)范圍 | 受限于內(nèi)部砝碼重量(如200g) | 可擴(kuò)展至全量程(如1kg+) |
成本 | 較高(內(nèi)置砝碼+復(fù)雜結(jié)構(gòu)) | 較低(結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單) |
適用場(chǎng)景 | 常規(guī)分析(≤200g) | 大質(zhì)量稱(chēng)量或特殊精度需求 |
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