日本TOPCON?觀察Ne、Ar的光譜線輸出SR-NIR分光輻射計
近紅外分光輻射計 SR-NIR
高精度測定超微弱近紅外光
產(chǎn)品概要
近年來,在顯示器及照明市場上,對“近紅外領(lǐng)域”的測定需求日漸增多。
之前,行業(yè)內(nèi)并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關(guān)儀器。
TOPCON在通過開發(fā)生產(chǎn)SR系列分光輻射度計所培育并積累起來的技術(shù)基礎(chǔ)之上,
開發(fā)出了“SR-NIR近紅外分光輻射度計”。
本產(chǎn)品和其他型號的SR系列分光輻射度計一并使用,能夠測定380nm-1030nm的分光輻射亮度。
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特點
? 能測定從FPD到微弱發(fā)光的近紅外領(lǐng)域。
? 高精度測定近紅外領(lǐng)域(600~1030nm)的分光分布。
? 和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時,能夠測定可見光~近紅外光(380~1030nm)的分光分布。
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主要用途
? 觀察各類FPD的近紅外領(lǐng)域的輸出。
? 觀察Ne、Ar的光譜線輸出。
? 光學(xué)膜等的近紅外透過特性評價。
? 其他光源的近紅外分光測量
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技術(shù)規(guī)格
光亮采集 | 電子冷卻型線性陣列傳感器 |
---|---|
波長分散原理 | 衍射光柵 |
光學(xué)系統(tǒng) | 對物鏡 : f= 82mm F2.5, 目鏡 : 觀測視野 5° |
測定角 | 2°/1°/0.2°/0.1° (電動切換式) |
最小測定直徑(mmφ) | 2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ) |
測定距離 | 350mm – ∞ (從物鏡金屬件前端開始的距離) |
測定波長范圍 | 600 – 1030nm |
光譜波寬 | 6 – 8nm (半波寬) |
波長分解能力 | 1nm |
測定模式 | 自動/手動 (積分時間/頻率)、外部垂直同步信號輸入 |
測定內(nèi)容 | 分光輻射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1 |
測定范圍(*1) | 2.0° : 0.5 – 3,000 cd/m2 1.0° : 1 – 9,000 cd/m2 0.2° : 20 – 70,000 cd/m2 0.1° : 100 – 300,000 cd/m2 |
重復(fù)精度(*2) | ±2% 以下 |
偏光特性 | 分光輻射亮度 5% 以下 |
校正基準(zhǔn) | 本公司校正基準(zhǔn)*標(biāo)準(zhǔn)A光源、23℃±3℃、65% RH以下 |
測定時間(*3) | 約 1 – 31 秒 |
界面 | RS-232C, USB 2.0 |
電源 | 專用AC電源適配器 AC100V-240V, 50/60Hz, |
功率 | 約 34W |
使用條件 | 溫度: 5 – 35℃, 濕度: 80%RH 以下 (且無凝露) |
外形尺寸(W×D×H) | 150×406×239mm |
質(zhì)量 | 約 5.5kg |
*1 本產(chǎn)品不測定亮度。記錄針對標(biāo)準(zhǔn)A光源的參考值
*2 600~1030nm 針對本公司基準(zhǔn)光源
*3 E和PC的通信時間除外
測定直徑
測定直徑: mmφ
測定角 | 測定距離 [mm] * | ||||
---|---|---|---|---|---|
350 | 500 | 800 | 1000 | 2000 | |
2° | 10.0 | 15.1 | 25.4 | 32.2 | 66.4 |
1° | 4.99 | 7.55 | 12.7 | 16.1 | 33.2 |
0.2° | 1.00 | 1.51 | 2.54 | 3.22 | 6.64 |
0.1° | 0.50 | 0.76 | 1.27 | 1.61 | 3.32 |
* 從物鏡金屬件前端開始的距離
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選配件
? 輔助鏡 : AL-6
? 輔助鏡 : AL-11
? 輔助鏡 : AL-12
? CCD 接口 : IA-2
? 導(dǎo)光束 : FP-3P
? 三腳架 5N : Tripod5N
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