通過“照明解決方案”， 為世界各地的“制造業(yè)”做出貢獻(xiàn)。

CCS 以自成立以來積攢下的專有技能和技術(shù)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)， 通過對(duì)光的波長、照射距離、照射角度等各種元素進(jìn)行搭配結(jié)合，

為您提供*佳光環(huán)境的“照明解決方案”

日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）的主要產(chǎn)品有：

1、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）環(huán)形光源：

日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）成都重慶西安地區(qū)的都看過來

LDR2 系列

從形成角度的發(fā)光部照射直射光。

用途： 字符識(shí)別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 二維代碼讀取等

LDR2-LA 系列

從形成角度的發(fā)光部低角度照射直射光。

用途： 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、 異物混入檢測等

LDR-LA1 系列

從水平方向的發(fā)光部低角度照射直射光。

用途： 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、 異物混入檢測等

SQR 系列

從上方照射直射光。

用途： 字符識(shí)別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 二維代碼讀取等

SQR-TP 系列

從形成角度的發(fā)光部低角度照射直射光。

用途： 金屬零件的外觀檢測、損傷與污垢檢測等

HLDR-IP 系列

照射通過鏡頭集光的擴(kuò)散光。

用途： 金屬零件的缺陷檢測、橡膠零件的外觀檢測、 粘合劑涂抹狀態(tài)檢測（UV）等

HPR2 系列

采用**的照射結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高自由度的均勻范圍。

用途： 通過高角度均勻照射、 低角度特征提取進(jìn)行的檢測等

LFR 系列

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 基板上的封裝零件檢測、 金屬零件的表面檢測等

LKR 系列

從形成角度的發(fā)光部照射擴(kuò)散光。

用途： 通過焊錫檢測、顏色識(shí)別進(jìn)行不同品種混入檢測、 光澤表面的污垢檢測等

FPR 系列

從形成角度的發(fā)光面照射低角度擴(kuò)散光。

用途： 金屬零件的邊緣檢測、電子零件的字符識(shí)別等

2、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）方形光源

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FPQ3 系列   New

從4個(gè)方向以低角度照射擴(kuò)散光。傳統(tǒng)產(chǎn)品2倍的高輸出。

用途：電子零件的字符識(shí)別、食品容器的外觀檢測、基板的外觀與圖案檢測等

FPQ2 系列

從4個(gè)方向以低角度照射擴(kuò)散光。

用途：電子零件的外觀檢測、字符識(shí)別、針或引腳的彎曲、污垢檢測等

3、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）條形光源

日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）成都重慶西安地區(qū)的都看過來

LDL2 系列

從線性封裝LED的發(fā)光部照射直射光。

用途：帶發(fā)紋金屬的損傷檢測、 異物與有無檢測等

LDLB 系列 ＜新增防水型＞

控制器內(nèi)置的條形光源，適用于大型被測物體。

用途： 機(jī)器人拾取用光源、不同品種混入檢測、 大型被測物體的外觀檢測等

HLDL2 系列

照射大型被測物體的*佳直射光。

用途： 機(jī)器人拾取用光源、大型被測物體的外觀檢測、 不同品種混入檢測等

4、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）平面光源

日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）成都重慶西安地區(qū)的都看過來

TH2 系列 (高亮度型)   New

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 液面檢測、針孔檢測、外觀檢測、 金屬零件的毛刺檢測等

TH2 系列 (高指向性型)   New

照射指向性較高的擴(kuò)散光。

用途： 尺寸測量、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 缺陷檢測等

TH2 系列 (大型)   New

*適用于大型被測物體的平面光源。

用途： 大型被測物體的液面檢測、 外觀檢測、異物檢測等

TH2 系列 (寬型)   New

適用于長方形被測物體及線陣相機(jī)的平面光源。

用途： 長方形被測物體的外觀檢測、片狀被測物體的缺陷檢測等

TH2 系列 (開孔型)   New

從與相機(jī)同軸的方向進(jìn)行照射的平面光源。

用途： 外觀檢測、異物、污垢檢測、 刻印字符讀取、金屬零件的密封材料 （FIPG）涂抹狀態(tài)檢測等

TH 系列

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 液面檢測、針孔檢測、外觀檢測、 金屬零件的毛刺檢測等

LFL 系列

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 液面檢測、外觀檢測、 包裝品的破裂、污垢檢測等

5、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）圓頂光源

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HPD2 系列

利用圓頂形狀的反射板均勻地照射擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識(shí)別檢測、刻印、損傷與污垢檢測等

LDM2 系列

從圓錐形發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識(shí)別檢測、焊錫檢測等

LAV 系列

利用擴(kuò)散光光源與同軸光源的復(fù)合結(jié)構(gòu)均勻地照射擴(kuò)散光。

用途：鍍金**檢測、密封內(nèi)的對(duì)象物檢測、 光澤面的異物附著檢測等

PDM 系列

利用擴(kuò)散光光源、同軸光源與低角度光源的復(fù)合結(jié)構(gòu)。

用途：鍍金**檢測、密封內(nèi)的對(duì)象物檢測、 光澤面的異物附著檢測等

6、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）平面無影光源

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LFX3 系列

以平面外殼實(shí)現(xiàn)了圓頂光源的效果。

7、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）同軸光源

LFV3 系列

從與相機(jī)同軸的方向均勻地照射擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面、鏡面的缺陷、損傷、 刻印、凹陷檢測等

MSU 系列

采用**的光源技術(shù)照射平行度高的擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面的細(xì)微損傷檢測等

MFU 系列

采用**的光源技術(shù)照射平行度高的擴(kuò)散光。

用途： 精密的外觀檢測、尺寸測量等

8、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）紫外光源?紅外光源

UV2 系列

使用高輸出UV-LED的UV光源。

用途： 通過激發(fā)熒光進(jìn)行密封材料的有無檢測等

UV系列

備有使用**UV-LED的各種光源產(chǎn)品陣容。

用途：隱形代碼的讀取等

LNSP-UV-FN 系列

使用高輸出UV-LED的UV線光源。  

用途： 通過激發(fā)熒光進(jìn)行密封材料的有無檢測等

IR2 系列

備有使用IR-LED的各種光源產(chǎn)品陣容。

用途： 透過液體檢測內(nèi)部異物等

9、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）點(diǎn)光源

HLV3 系列   New!

-兼具高輸出、高均勻性

-降低亮度個(gè)體差異

-與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比 實(shí)現(xiàn)*大2倍的高輸出化

HLV2 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)照射高輸出的點(diǎn)光。

用途： 尺寸測量用光源、點(diǎn)照射用光源等

LV 系列

采用**的集光技術(shù)照射點(diǎn)光。

用途： 尺寸測量用光源、點(diǎn)照射用光源等

10、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）LED光源機(jī)

PFB3 系列  New!

-可替代100W鹵素光源的亮度

-確保調(diào)光的可控性

HFS 系列

采用**集光技術(shù)的LED光纖光源系統(tǒng)（直線形）。

用途：對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記成像等

HFR 系列

采用**集光技術(shù)的LED光纖光源系統(tǒng)（環(huán)形）。

用途：對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記成像等

HLV2-22-NR-3W 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)照射高輸出的點(diǎn)光。

用途： 微型光纖照射頭專用光源

HLV2-3M-RGB-3W

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)及集光技術(shù)照射高輸出的點(diǎn)光。

用途： 微型光纖照射頭專用光源

PFBR 系列

實(shí)現(xiàn)了超過250W金鹵光源的光輸出。

用途：連接各種光纖導(dǎo)管使用

PFB2 系列

實(shí)現(xiàn)了超過100W鹵素光源的光輸出。

用途： 連接各種光纖導(dǎo)管使用

11、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）線光源

CU-LNSP2/LNSP 系列

作為安裝至LNSP系列的同軸光源使用。

LNSP-FN 系列

通過**的集光技術(shù)實(shí)現(xiàn)抑制了光擴(kuò)散的照射。強(qiáng)制冷卻（風(fēng)扇冷卻）型的高輸出線光源。

LN 系列

照射集光后的線光。

適用于外觀檢測、缺陷檢測。

LN-HK 系列

照射集光后的線光（高輸出型）。

適用于外觀檢測、缺陷檢測

LNSD 系列

用途廣泛的高通用性線光源。

適用于魚眼、損傷、凹痕、異物與污垢檢測。

LND2 系列

實(shí)現(xiàn)與熒光燈同等亮度且降低了成本的線陣光源?？捎糜谒芯€陣傳感器檢測。

適用于損傷與凹痕檢測、異物檢測、尺寸測量。

HLND 系列

從線性封裝LED的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

適用于異物檢測、污垢檢測。

LT 系列

運(yùn)用本公司**的光學(xué)系統(tǒng)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高均勻性與高亮度。 可通過掃描速率進(jìn)行高精度檢測，

適用于廣泛的用途。 適用于白點(diǎn)檢測、劃痕檢測。

LNV 系列

從與相機(jī)同軸的方向照射擴(kuò)散光。

適用于缺陷檢測、污垢檢測。

LNDG 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)斜光照射。

適用于縱向褶皺、縱向條痕、折痕、凹凸、生產(chǎn)線傳送方向的損傷檢測。

LNIS 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)兩側(cè)斜光照射。

適用于條痕、劃痕檢測、生產(chǎn)線傳送方向的損傷檢測。

LNIS-FN 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)兩側(cè)斜光照射。采用強(qiáng)制冷卻（風(fēng)扇冷卻）的高輸出型。

12、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）超亮頻閃光源

PF 系列(LDR-PF-LA、LFV-PF)   New

環(huán)形低角度型 LDR-PF-LA、同軸型 LFV-PF。實(shí)現(xiàn)檢測的“高速化”、“提高精度”！

PF 系列(HPD-PF、HPR-PF)

產(chǎn)品種類得到擴(kuò)充，用途擴(kuò)大！

PF 系列

利用頻閃發(fā)光，進(jìn)一步加快高速生產(chǎn)線。為提高生產(chǎn)力做出了貢獻(xiàn)。