該產(chǎn)品是測量粒度和 zeta 電位的專用設備。
ELSZneoSE 使 ELSZneo 的新功能成為可選功能。 可以根據(jù)應用程序根據(jù)需要定制必要的功能。

產(chǎn)品信息

  特征

•         可根據(jù)應用添加附加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變測量、凝膠網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)分析和多角度粒度測量）。

•         用于連續(xù)測量粒徑和 zeta 電位的標準流通池

•         可以在從稀溶液到濃溶液 （~40%） 的寬濃度范圍內(nèi)進行粒度和 zeta 電位測量。

•         可以在高鹽濃度下測量板狀樣品的 Zeta 電位

•         能夠在 0~90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量

•         溫度梯度功能可實現(xiàn)蛋白質(zhì)等的變性和相變溫度分析。

•         測量電池中的電滲流并進行繪圖分析，以提供高精度的 zeta 電位測量結(jié)果

•         可安裝熒光截止濾光片（可選）

用法

      它是表面化學、無機材料、生命科學、半導體、聚合物、生物學、藥理學和醫(yī)學領域中涉及薄膜和扁平樣品以及細顆粒表面科學的基礎和應用研究的理想選擇。

• 新功能材料

• 燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、纖維素納米纖維、功能膜、催化劑、納米金屬）

• 生物納米相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡、

• 生物相容性材料等
   

• 陶瓷和著色劑行業(yè)

陶瓷（硅石、氧化鋁、二氧化鈦等）

• 無機溶膠的表面改性、分散和結(jié)塊控制 顏料（炭黑、有機顏料）的

• 分散和結(jié)塊控制 漿料樣品

• 顏色過濾器

• 浮選礦物吸附研究
   

• 半導體領域 闡明異物粘附到

• 硅片表面的機制 磨料和添加劑與硅片表面

• 相互作用的研究 CMP 漿料
   

• 聚合物和化學工業(yè) 

• 乳液（油漆和粘合劑）的分散和團聚控制，乳膠的表面改性（制藥、工業(yè)） 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）、功能性納米顆粒的功能研究

• 造紙和紙漿以及紙漿添加劑的

• 造紙過程控制
   

• 制藥和食品工業(yè) 

• 乳液（食品、香水、醫(yī)療、化妝品）的

• 分散和聚集控制，蛋白質(zhì)功能脂質(zhì)體和囊泡的

• 分散和聚集控制，表面活性劑（膠束）的功能。

原理

粒度測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關法）

由于溶液中的顆粒具有取決于顆粒大小的布朗運動，因此當顆粒被光照射時獲得的散射光顯示小顆粒的快速波動和大顆粒的緩慢波動。

通過光子相關法分析這些波動，可以確定顆粒大小和顆粒大小分布。 由于溶液中的顆粒具有取決于顆粒大小的布朗運動，因此當顆粒被光照射時獲得的散射光顯示小顆粒的快速波動和大顆粒的緩慢波動。

通過光子相關法分析這些波動，可以確定顆粒大小和顆粒大小分布。

分析流程

Zeta 電位測量原理：電泳光散射（激光多普勒法）

當對溶液中的顆粒施加電場時，根據(jù)顆粒的電荷觀察到電泳，因此 zeta 電位和電泳遷移率由該電泳速率確定。 在電泳光散射法中，光照射在被電泳的顆粒上，電泳速度由獲得的散射光的多普勒頻移量決定，因此也稱為激光多普勒法。

電滲式流量測量的優(yōu)勢

電滲流是在 zeta 電位測量過程中電池中發(fā)生的溶液流動。 當細胞壁帶電時，溶液中的反離子聚集在細胞壁上。 當施加電場時，反離子流向相反符號的電極側(cè)，相反的流動發(fā)生在電池中心附近以補償流動。 通過測量顆粒的表觀電泳遷移率并分析電滲流，通過考慮樣品的吸附和沉淀等細胞污染的影響來獲得正確的靜止表面，并確定真正的 zeta 電位和電泳遷移率。 （參見 Mori-Okamoto 的公式）

Mori-Okamoto 方程

考慮電滲流U 的電池中電泳速度分析OBS（z）=AU0（Z/B）2+⊿U0（z/b）+（1-A）U0+Up

z：距電池中心位置的距離 Uobs（z）：電池中位置 z 的表觀遷移率 A=1/[（2/3）-（0.420166/k）]    

k=a/b：2a 和 2b 是電泳電池橫截面的水平和垂直長度>。 

U0：單元上下壁的平均遷移率 ⊿U0：單元上下壁的遷移率差異

電滲流在多組分分析中的應用

     由于 ELSZ 系列實際上測量了電池中多個點的表觀電泳遷移率，因此可以檢查測量數(shù)據(jù)中 zeta 電位分布的可重復性并確定噪聲峰值。

應用于平板電池

     平板樣品池的結(jié)構(gòu)允許平板樣品集成到箱形石英樣品池的上表面。 在電池深度方向的每個水平上測量監(jiān)測顆粒的表觀電泳遷移率，并根據(jù)得到的電滲曲線分析固體界面處的電滲流速度，并確定板樣品表面的 zeta 電位。

致密樣品的 Zeta 電位測量原理

     由于多重散射和吸收的影響，難以被光穿透的濃縮和有色樣品很難用 ELS 系列進行測量。

     目前，ELSZ 系列的標準池可以測量從稀到密的各種系統(tǒng)。 對于濃度較高的樣品，現(xiàn)在可以使用 FST 方法測量致密細胞的 zeta 電位*

規(guī)格

測量項目

Zeta 電位和粒徑

規(guī)格

測量范圍

●支持范圍

*1 （標準顆粒：0.00001 ~ 10%，?；悄懰幔簙 40%）

關于 Standard Cells

標準流通池裝置

具有可測量粒徑和 zeta 電位的細胞單元

顆粒尺寸單元

粒徑可測量“單元單位。

可以使用市售的方形單元。

測量示例

      在高濃度下測量較寬的粒度范圍

在較寬的濃度范圍內(nèi)進行 Zeta 電位和粒度測量

     粒度和 zeta 電位測量可用于濃度范圍為 0.00001% （0.1 ppm） 的稀溶液到高達 40% 的濃縮溶液。