德國菲希爾測厚儀 XDL230,熒光射線測厚儀,原理是基于X射線穿透材料時強度的衰減與被測物厚度之間的定量關系,通過測量衰減后的射線強度計算厚度值?。
因為是非接觸式的,所以X射線測厚儀適用于高速生產線(如軋鋼、薄膜制造)的實時監(jiān)測。
技術優(yōu)勢
?高適應性?:通過調整X射線能量(如改變管電壓)可匹配不同材質和厚度的測量需求。
?實時反饋?:與控制系統(tǒng)聯動,實現生產過程中的自動厚度調整。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板
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