FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù)，因此能夠為任何測量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀一臺儀器，三種作業(yè)模式：FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀不只是一臺手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。

FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。

COULOSCOPE CMS2臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

GOLDSCOPEGOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

XDL / XDLM / XDAL功能強大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計XDV-μFISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中*微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品XUVX 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。XDL / XDLM / XDAL憑借電機驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇*適合的 X 射線儀器。