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光波測(cè)試平臺(tái)(模塊化/多通道)可以靈活、高效、可靠的完成測(cè)試任
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6433P光波元件分析儀主要應(yīng)用于高速電光器件(電光強(qiáng)度調(diào)制器、直
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徠卡物鏡Obj.NPLAN5x/0.12只是徠卡顯微系統(tǒng)240多款標(biāo)準(zhǔn)物鏡中的一
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徠卡物鏡PLANL50x/0,50(適用拉曼)只是徠卡顯微系統(tǒng)240多款標(biāo)準(zhǔn)物
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徠卡物鏡Obj. N PLAN EPI 50x/0.75 XLF(拉曼優(yōu)化物鏡)
徠卡物鏡Obj.NPLANEPI50x/0.75XLF(拉曼優(yōu)化物鏡)只是徠卡顯微系
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徠卡物鏡Obj. HC PL APO 150x/0.90 IVIS BD
徠卡物鏡Obj.HCPLAPO150x/0.90IVISBD只是徠卡顯微系統(tǒng)240多款標(biāo)準(zhǔn)
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徠卡物鏡 HC PL APO 100x/1,40 OIL STED WHITE
徠卡物鏡HCPLAPO100x/1,40OILSTEDWHITE只是徠卡顯微系統(tǒng)240多款標(biāo)
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徠卡物鏡HC PL APO 40x/1,25 GLYC motCORR CS2
徠卡物鏡HCPLAPO40x/1,25GLYCmotCORRCS2只是徠卡顯微系統(tǒng)240多款標(biāo)
