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產(chǎn)品
標(biāo)卓 BW/加拿大 FSM HUACE/北京華測(cè) OLYMPUS/奧林巴斯 ROOKO/瑞柯 RENISHAW/英國(guó)雷 同惠電子 ThetaMetrisis TSI/美國(guó) TYCO/美國(guó)泰科 UNICO/尤尼柯 廈門地坤 YIOU 縱橫金鼎 其他品牌
在線詢價(jià)
國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)PX 5960
FLX-2320-R薄膜應(yīng)力測(cè)試儀/日本TOHOPX 1423
WD4000晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備PX 7243
RTS-3型手持式四探針測(cè)試儀半導(dǎo)體電阻儀PX 3909
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀PX 3157
RTS-9型雙電測(cè)四探針?shù)囯姌O片電阻測(cè)試儀PX 2959
CGSR系列膜厚測(cè)量?jī)xPX 1700
KPM AP-D-LeAQUA-PICCOLO手持式皮革水分測(cè)試儀PX 3126
MKF1-KW2-20036+428德國(guó)福鳥(niǎo)VOGEL測(cè)量?jī)x常規(guī)型號(hào)現(xiàn)貨PX 4082
RM 3000赫爾納供應(yīng)英國(guó)Jandel四探針探頭PX 5724
*YR(40A)直流電阻測(cè)試儀PX 3400
HD-2263/ST2263雙電測(cè)四探針檢測(cè)儀PX 3541
BDST-300C半導(dǎo)材料四探針測(cè)試儀PX 3642
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測(cè)試系統(tǒng)-SPM900PX 5194
GBT17643切口恒載拉伸法土工膜應(yīng)力開(kāi)裂測(cè)試儀PX 5115
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測(cè)試儀PX 2802
MFNA-200福樂(lè)FLUORO缺口和定向器PX 3858
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀PX 3338
Full Deposition PSL Wafer校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征PX 2962
愛(ài)安德晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨PX 3522
襯底電阻率方阻測(cè)試儀PX 1842
ZS美國(guó)MOUNTZ扭矩測(cè)試儀維修PX 4552
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測(cè)量?jī)xPX 10024
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀PX 3213
BX-G3487高精度太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)量?jī)xPX 3614
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統(tǒng)PX 2610
PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xPX 2716
TC-SLQZ型氣動(dòng)和真空探針土壤采樣PX 2413
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)PX 7097
LPA12FS-3美國(guó)Logosol晶圓預(yù)對(duì)準(zhǔn)器PX 2312
YP-150I-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫(kù)銷售PX 3113
Luminous NA-8000日本ULVAC愛(ài)發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列PX 5075
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測(cè)試儀PCD-400B多功放大器PX 3745
芯片X‘ray檢測(cè)設(shè)備PX 2638
BXA58超高阻雙電四探針測(cè)試儀PX 3014
PZ-332C半導(dǎo)體共面性測(cè)量設(shè)備PX 6107
BF1200 361200BAMO電導(dǎo)率探針PX 3690
METREL MI3321多功能安規(guī)測(cè)試儀PX 4099
薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)PX 2930
Hologenix微米晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)PX 2136
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
薄膜應(yīng)力測(cè)試儀/日本TOHO
薄膜應(yīng)力測(cè)試儀
晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備
膜厚測(cè)量?jī)x
晶圓幾何尺寸量測(cè)設(shè)備
國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)
光學(xué)膜厚儀
晶圓微觀幾何輪廓測(cè)量系統(tǒng)
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開(kāi)裂測(cè)試儀
福樂(lè)FLUORO缺口和定向器
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營(yíng)許可證
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