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在線詢價
PID Check便攜式現(xiàn)場PID測試儀PX 3318
PIDcon bifacial臺式雙面電池PID測試儀PX 3318
LST體微缺陷測試設(shè)備PX 3100
LEIModel1605非接觸遷移率測試系統(tǒng)PX 3100
LEI88非接觸方塊電阻測試系統(tǒng)PX 3100
非接觸Hall和方塊電阻測試系統(tǒng)PX 3100
德國Freiberg--MDPproMDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀--少子壽命PX 3318
SRP 擴(kuò)展電阻測試PX 3100
Freiberg--MDPmapMDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試PX 3318
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測試設(shè)備PX 3100
弗萊貝格--MDPlinescanMDP在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測儀PX 3318
WT-2000PL光致發(fā)光檢測設(shè)備PX 3100
Freiberg--MDPinlineMDP高速晶圓片在線面檢測儀--少子壽命檢測PX 3318
PV-2000A 光伏多功能掃描系統(tǒng)PX 3100
Freiberg--MDPinline ingotMDP晶錠在線面掃檢測儀--進(jìn)口少子壽命測試PX 3318
LEI Model2017B汞探針測試PX 3100
Freiberg-MDPictsMDP微波探測光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命PX 3318
汞CV測試系統(tǒng)PX 3100
CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng)PX 3100
少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)PX 3100
WT-2000半導(dǎo)體多功能測試PX 3100
WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)PX 3100
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀PX 3100
K075日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型PX 3631
K050日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型PX 3631
K039日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型PX 3631
K-026-2CA日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標(biāo)準(zhǔn)型PX 3631
KPS040-004CA日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針高頻PX 3631
公制細(xì)牙雙頭螺栓A蘇州半導(dǎo)體設(shè)備連接使用PX 0
KMW040-001RG日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針大電流、高溫PX 3631
KJW050-003CG日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針非磁性PX 3631
KNS025-001WP日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針開爾文接觸PX 3631
KHS017-001CP日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針細(xì)間距PX 3631
KHW030-001C2日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針標(biāo)準(zhǔn)間距PX 3631
富安時調(diào)功器ZA400BX-I-3-80光伏專用PX 0
*材料測試美國吉時利KEITHLEY2450源表PX 6238
XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀PX 6238
ZBDR-10A界面材料熱阻及熱傳導(dǎo)系數(shù)測量儀PX 6238
半導(dǎo)體專用烤箱PX 0
石英部件存儲柜PX 0
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
中村現(xiàn)貨:日本ORC光刻系統(tǒng)EDi系列
中村庫存:日本ORC光刻系統(tǒng)EDi系列
原裝新品:日本ORC光刻系統(tǒng)EDi系列
原裝新品:日本ORC臭氧發(fā)生器
中村到貨:日本ORC臭氧發(fā)生器
中村供應(yīng):日本ORC 臭氧發(fā)生器
中村供應(yīng):日本ORC臭氧發(fā)生模塊
現(xiàn)貨庫存:日本ORC臭氧發(fā)生模塊
日本SIMCO思美高靜電測試儀
氣控閥回吸閥一體型 半導(dǎo)體制造前工序
全自動芯片ESD測試設(shè)備
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
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