一、原理
Itrax Multiscanner多用途X光掃描分析系統(tǒng)是利用XRF（X光熒光特性）和X光照相技術獲得高精度數(shù)碼圖像
的掃描分析設備。該系統(tǒng)利用X光透射成像能夠獲得檢測樣品的密度圖像，進行年輪分析；利用XRF掃描檢測多種元素含量，其中鉀、鈣等元素含量圖像還可輔助識別不清晰的年輪。
二、用途：
1. 密度分析
2. 顯微照相
3. 多種痕量元素分析，Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Ti、Ba、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Br、Rb、Sr、Pb等
4. 可用于不同材料分析，如木材、洞穴堆積物（如鐘乳石），泥炭塊、巖心、沉積物等
三、特點：
1. 數(shù)據(jù)質量高
2. X光照相速度快
3. 可分析元素種類多
4. 集光學成像、數(shù)碼X射線顯微照相和XRF分析于一體
5. 儀器使用方便，能夠在無人值守的情況下實現(xiàn)復雜的取樣工作
6. 可用于多種形式的樣品，包括木條、樹木圓盤、木制板材
四、技術指標
1. 分辨率：X光照相：20~200μm可選
XRF：50~200μm可選
2. 掃描寬度：X光照相：20mm
XRF：2mm
3. 掃描速度：X光照相：精度為20μm時每10cm需8分鐘
XRF：精度為100μm時每10cm需3小時
4. 樣品規(guī)格：直徑小于280mm，厚度1~15mm（可選更厚）
樣品固定盤可固定9條長不大于280mm，寬7-15mm
的條狀樣品
5. 操作臺：780×800×1600 mm（長×寬×高），防塵、放輻射
五、組成：
1. X光發(fā)生系統(tǒng)
2. 標準LEF型X光顯像管
3. PolyflatTM扁平X光束光學系統(tǒng)。
4. 可調X光束準直儀
5. 300×200 mm X/Y可移動電腦控制臺
6. 線性排列的感應原件
7. 密度校準塑料楔
8. 操作臺
9. 樣品固定盤
10. 計算機
11. 平板掃描儀
12. 系統(tǒng)用戶軟件
13. 紙版用戶手冊
六、產(chǎn)地：歐洲
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