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被動(dòng)隔振臺(tái)GWA-M我司自主研發(fā)生產(chǎn)的氣浮隔振臺(tái)，空氣彈簧技術(shù)。更低的自然頻率和更快的穩(wěn)定速度。價(jià)格diyu市場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)百分之十五以上。

主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT是一款輕量的桌面式隔振系統(tǒng)，輕量化的架構(gòu)設(shè)計(jì)使得安裝和移動(dòng)十分便捷。采用進(jìn)口非壓電式技術(shù)，無(wú)限制反饋傳感器結(jié)合鋼制彈簧和氣囊高度耦合的被動(dòng)...

主動(dòng)隔振臺(tái)ARISMDARISMD主動(dòng)隔振器是一款輕量的落地式隔振系統(tǒng)，輕量化的架構(gòu)設(shè)計(jì)使得安裝和移動(dòng)十分便捷。采用進(jìn)口非壓電式專用技術(shù)，無(wú)限制反饋傳感器結(jié)合鋼...

AMT主動(dòng)隔振系統(tǒng)是一款桌面式主動(dòng)隔振器，自動(dòng)水平，快速反饋，安裝簡(jiǎn)易主動(dòng)隔振臺(tái)AMT

Estable主動(dòng)隔振臺(tái)是一款桌面式主動(dòng)隔振器，自動(dòng)水平，快速反饋，安裝簡(jiǎn)易，前端LED實(shí)時(shí)反饋工作狀態(tài)。

為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開(kāi)發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡...

TNI LF-2000原位自動(dòng)納米操作系統(tǒng)是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動(dòng)化程度的納米操作系統(tǒng)，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復(fù)定位、低漂移、閉環(huán)運(yùn)...

FT-NMT04納米力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。

InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過(guò)在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來(lái)測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SE...

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。本產(chǎn)品可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試...

Duramin-100 廣泛載荷范圍硬度計(jì)系列包括微觀和通用測(cè)試儀。頂級(jí)型號(hào)涵蓋從 10 gf 到 250 kgf 的廣泛載荷范圍，包括電動(dòng) XY 載物臺(tái)、電動(dòng)...

此系列顯微硬度測(cè)試儀為入門級(jí)別，雖然主要針對(duì)維氏硬度測(cè)試，但是也可用于努氏硬度測(cè)試和布氏硬度測(cè)試。硬度計(jì)。

Duranmin-40硬度計(jì) 涵蓋了 Struers 微觀/宏觀硬度測(cè)試儀的基本載荷范圍。此測(cè)試儀配有手動(dòng)和電動(dòng) XY 載物臺(tái)和一個(gè)全景相機(jī)。

Filmetrics R50 是KLA電阻測(cè)試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測(cè)試儀是KLA超45年電阻測(cè)量技術(shù)地位之作。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至...

iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機(jī)械測(cè)量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確，可重復(fù)的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試，包括壓痕，硬度...

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。我司有此機(jī)器...

P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺(tái)式系統(tǒng)的測(cè)量性能和經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂相結(jié)合。 這...

自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀P17。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力2D和3D測(cè)量，掃描可達(dá)200mm無(wú)需圖像拼接。結(jié)合UltraLite®...

P-7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D...

非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測(cè)量裝置探測(cè)部分不與被測(cè)表面的直接接觸，保護(hù)了測(cè)量裝置，同時(shí)避免了與測(cè)量裝置直接接觸引入的測(cè)量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)...