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SUME BW510是用于研發(fā)或小批量生產(chǎn)的半自動晶圓鍵合設(shè)備，具備良好的壓力與溫度均勻性較為特的結(jié)構(gòu)設(shè)計保證鍵合的壓盤相對水平，先進的真空系統(tǒng)以及腔體設(shè)計，方...

自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學(xué)元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學(xué)鏡面...

具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)

從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進行表面微觀測量分析和粗糙度質(zhì)量評價。白光干涉原理。

Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能

高級研究型高光譜顯微系統(tǒng)結(jié)合了高光譜技術(shù)和顯微鏡技術(shù)，能夠在不同波長范圍內(nèi)獲取高分辨率的光譜信息與生物樣品形態(tài)圖，實現(xiàn)在一張圖中同時獲取光譜和圖像信息。該系統(tǒng)還...

陣列式壓力傳感系統(tǒng)通過由前端柔性陣列式微機電壓力感測器及后端軟件界面組成，前端傳感器依所承受壓力呈現(xiàn)線性反應(yīng)變化，壓力越大則電導(dǎo)越高，再由后端軟件將接觸面壓力分...

碳化硅SiC長晶設(shè)備是實現(xiàn)高質(zhì)量SiC晶體生長、高純度原料合成、高溫晶體熱處理的專業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于SiC晶體生長、原料合成、晶體熱處理領(lǐng)域?？梢陨L6/8英寸...

MPCVD金剛石長晶設(shè)備Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金剛石晶體生長系統(tǒng)，是實現(xiàn)高質(zhì)量金剛石晶體生...

Desk V 鍍膜機使用一個2英寸的陰極進行濺射，由一個最大輸出為100毫安的直流電源驅(qū)動。使用傾斜/旋轉(zhuǎn)臺來實現(xiàn)好的樣品覆蓋，特別是在粗糙的表面。Desk V...

全自動步進重復(fù)式激光干涉光刻機VIL 1000納米光刻系統(tǒng)具有全自動光路重構(gòu)、動態(tài)鎖相、高精度步進重復(fù)曝光等強大功 能。在放置旋涂好光刻膠的 晶圓后，無需任何手...

激光干涉光刻機----HIL系列激光干涉納米光刻機具有突破性的強大功能，只需要單次曝光即可在幾分鐘內(nèi)制備大面積周期性納米結(jié)構(gòu)。其最小特征尺寸可以低于50納米。該...

低溫強磁場共聚焦樣品桿物性表征-低溫光學(xué)?低溫強磁場環(huán)境下的共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成像測試

低振動光學(xué)型恒溫器。超低振動， 低溫拉曼、 熒光、 紅外、 太赫茲、 MOKE及低溫物性測試

無液氨低振動低溫磁場測試系統(tǒng).萬物"皆可轉(zhuǎn)－多種物性測量轉(zhuǎn)角測試。多種測試選件如電學(xué)、磁學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)。溫度范圍4.2 K -325 K,最大磁場1T／3T／5...

VIL1000激光干涉光刻機 VIL系列納米圖形系統(tǒng)（激光干涉光刻機）具有快速可重構(gòu)光束傳輸、主動圖形穩(wěn)定和精確樣品定位等強大功能。該系統(tǒng)可以通過使用標(biāo)準(zhǔn)2cm...

國產(chǎn)PLD脈沖激光分子束外延裝置。脈沖激光分子束外延成膜法PLD/Laser MBE是將脈沖激光通過合成石英窗導(dǎo)入真空腔內(nèi)照射到成膜靶上，靶被照射后吸收高密度能...

Polymer Pen Lithography (PPL)聚合物筆印刷是新發(fā)展起來的圖案化方法，結(jié)合了微接觸印刷和蘸筆印刷的優(yōu)點，可以實現(xiàn)低消耗、柔性的分子印刷...

Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到...

離子束沉積作為納米結(jié)構(gòu)的基本組成單元，團簇或納米顆粒在納米科學(xué)中具有關(guān)鍵的地位。我們設(shè)計研制了兩套氣體聚集型團簇源：基于熱蒸發(fā)的氣體聚集團簇束流源和磁控等離子體...