1.  表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)      型號(hào)；HAD-FD-SMOKE-B

FD-SMOKE-B型表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)是在A型SMOKE實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的基礎(chǔ)上改提而成，儀器的整體性能和實(shí)驗(yàn)穩(wěn)定度均得到了明顯的改善。

　　，實(shí)驗(yàn)平臺(tái)改掉了光學(xué)鐵板的形式，采用硬鋁黑色陽氧化的方式，這樣大大提了光學(xué)平臺(tái)的可移動(dòng)性和光學(xué)性能，臺(tái)面采用 M6固定螺孔的方式來連接各個(gè)光學(xué)元件，這樣整個(gè)光學(xué)調(diào)節(jié)成后可以減少不的移動(dòng)和改變，對(duì)后面實(shí)驗(yàn)操作帶來了方便。

　　其次，儀器測試靈敏度提了倍，這樣zui終的測試信號(hào)整體穩(wěn)定性得到了大大改善，這樣可以步研究單原子層厚度的磁性薄膜的性質(zhì)，在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中發(fā)揮更重要的作用。

　　再有，環(huán)形電磁鐵步改，在不改變中心zui大磁感應(yīng)強(qiáng)度的情況下，縮小磁鐵結(jié)構(gòu)，這樣更加有利于與真空系統(tǒng)連接，對(duì)磁性薄膜和薄膜行原位測量。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1.實(shí)驗(yàn)平臺(tái) 光學(xué)減振組合式實(shí)驗(yàn)臺(tái)，臺(tái)面尺寸 1200×900mm，M6螺孔，孔距25×25mm，

　　2.穩(wěn)定度半導(dǎo)體激光器，波長 650nm，輸出率 2mW左右，zui小光斑直徑1mm。

　　3.偏振棱鏡 通光孔徑 8mm，消光比 10 -5 ，主透比90％。

　　4.環(huán)形電磁鐵 中心zui大磁感應(yīng)強(qiáng)度約 2800Gs，磁間隙30mm

　　5.恒電源 zui大電壓38V，zui大輸出電 10A。

2.         型號(hào)；HAD-FD-SMOKE-A

在 1845年，Michael Faraday發(fā)現(xiàn)了磁光效應(yīng)，他發(fā)現(xiàn)當(dāng)外加磁場加在玻璃樣品上時(shí)，透射光的偏振面將發(fā)生旋轉(zhuǎn)的效應(yīng)，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實(shí)驗(yàn)，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實(shí)驗(yàn)結(jié)果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時(shí)，發(fā)現(xiàn)了磁光克爾效應(yīng)(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學(xué)者行鐵薄膜磊晶成長在金單晶(100)面上的磁光克爾效應(yīng)量做實(shí)驗(yàn)，成地得到原子層厚度磁性物質(zhì)之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應(yīng) (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫，用以表示應(yīng)用磁光克爾效應(yīng)在表面磁學(xué)上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達(dá)原子層厚度，且儀器配置合于真空系統(tǒng)之作，因而成為表面磁學(xué)的重要研究方法。

　　它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應(yīng)用。應(yīng)用該系統(tǒng)可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統(tǒng)可以和真空系統(tǒng)相連，對(duì)磁性薄膜和薄膜行原位測量。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1．半導(dǎo)體激光器 波長 650nm 輸出率 2mW

　　2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％

　　3．電磁磁鐵 中心zui大磁感應(yīng)強(qiáng)度0.3T 磁間隙 30mm

　　4．恒電源 zui大電壓 38V zui大輸出電 10A

3.   磁塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀         型號(hào)；HAD-FD-ZM-A

　在大院校的實(shí)驗(yàn)教學(xué)中，塞曼效應(yīng)是經(jīng)典的近代物理實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，通過該實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象的觀察，可以了解磁場對(duì)光產(chǎn)生的影響，認(rèn)識(shí)發(fā)光原子內(nèi)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，加深對(duì)原子磁矩和空間取向量子化的理解，并測量電子的荷質(zhì)比。

　 HAD-FD-ZM-A型磁塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀與儀器相比具有以下點(diǎn)：

　　1．磁場由磁鐵提供，具有穩(wěn)定性好，中心磁感應(yīng)強(qiáng)度的點(diǎn)；并且通過機(jī)械調(diào)節(jié)改變磁頭間距，調(diào)節(jié)中心的磁感應(yīng)強(qiáng)度。

　　2．實(shí)驗(yàn)儀的磁鐵和光學(xué)導(dǎo)軌固定連接，導(dǎo)軌由鋁合金型材制成，表面陽氧化，不生銹，并且導(dǎo)軌上配有標(biāo)尺，這樣實(shí)驗(yàn)調(diào)節(jié)方便，重復(fù)性好。

　　3．實(shí)驗(yàn)儀配有度斯拉計(jì)，可以測定中心磁感應(yīng)強(qiáng)度。

　　HAD-FD-ZM-A型磁塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀主要由實(shí)驗(yàn)儀主機(jī)（包括斯拉計(jì)、汞燈電源）、磁鐵、筆形汞燈、會(huì)聚透鏡、干涉濾光片、F-P標(biāo)準(zhǔn)具、偏振片、成像透鏡、讀數(shù)顯微鏡組成。選配件：象素CCD采集系統(tǒng)、USB口外置圖像采集盒、塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)分析軟件。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1．磁鐵中心磁感強(qiáng)度 1360mT

　　2．標(biāo)準(zhǔn)具通光口徑 40mm

　　3．標(biāo)準(zhǔn)具空氣隙間隔 2mm

　　4．濾光片中心波長 546.1nm

　　5．讀數(shù)顯微鏡度 0.01mm

　　6．斯拉計(jì)分辨率 1mT

　　7．CCD有效象素（選配）752×582

4.  塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀(電磁型) 型號(hào)：HAD-FD-ZM-B

1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當(dāng)光源放在足夠強(qiáng)的磁場中時(shí)，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應(yīng)。 塞曼效應(yīng)是繼英物理學(xué)家法拉1845年發(fā)現(xiàn)磁致旋光效應(yīng)，克爾1876年發(fā)現(xiàn)磁光克爾效應(yīng)之后，發(fā)現(xiàn)的又個(gè)磁光效應(yīng)。 塞曼效應(yīng)不僅證實(shí)了洛侖茲電子論的準(zhǔn)確性，而且為 湯姆遜 發(fā)現(xiàn)電子提供了證據(jù)。還證實(shí)了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這發(fā)現(xiàn)共同獲得了諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。直到今日，塞曼效應(yīng)仍舊是研究原子能結(jié)構(gòu)的重要方法。

　　 FD-FZ-I型塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀具有磁場穩(wěn)定，測量方便，實(shí)驗(yàn)分裂環(huán)清晰等點(diǎn)，適用于等院校近代物理實(shí)驗(yàn)和性實(shí)驗(yàn)。

　　應(yīng)用該實(shí)驗(yàn)儀主要成以下實(shí)驗(yàn)：

　　1．掌握觀測塞曼效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)方法， 加深對(duì)原子磁矩及空間量子化等原子物理學(xué)概念的理解。

　　2．觀察汞原子 546.1nm譜線的分裂現(xiàn)象以及它們偏振狀態(tài)，由塞曼裂距計(jì)算電子荷質(zhì)比。

　　3．學(xué)習(xí)法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn)具的調(diào)節(jié)方法

　　4．學(xué)習(xí)CCD器件在光譜測量中的應(yīng)用。（其中CCD器件、采集系統(tǒng)及實(shí)驗(yàn)分析軟件選購）

　　儀器主要參數(shù)：

　　1. 電磁鐵 zui大磁感應(yīng)強(qiáng)度 1.28T 勵(lì)磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V

　　2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　3．法布里－珀羅標(biāo)準(zhǔn) 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　4．干涉濾光片 中心波長 546.1nm

　　5. 讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm

5.  法拉效應(yīng)塞曼效應(yīng)綜合實(shí)驗(yàn)儀         型號(hào)；HAD-FD-FZ-C

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現(xiàn)象和光學(xué)現(xiàn)象之間的時(shí)，發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象，當(dāng)束平面偏振光穿過介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場，就會(huì)觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉(zhuǎn)過個(gè)角度，亦即磁場使介質(zhì)具有了旋光性，這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應(yīng)。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當(dāng)光源放在足夠強(qiáng)的磁場中時(shí)，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應(yīng)。法拉效應(yīng)和塞 曼 效應(yīng)是19紀(jì)實(shí)驗(yàn)物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。

　　本公司的HAD- FD-FZ-C型法拉效應(yīng)塞 曼 效應(yīng)綜合實(shí)驗(yàn)儀是在I型的基礎(chǔ)上改而成，將原來維調(diào)節(jié)的氦氖激光器改為兩維調(diào)節(jié)的半導(dǎo)體激光器，這樣成法拉效應(yīng)時(shí)調(diào)節(jié)更加準(zhǔn)確方便，并且激光輸出率更加穩(wěn)定。電磁鐵中心磁場強(qiáng)度也比以前有了顯著提，zui大可以達(dá)到1.4T。測角儀器將原來的游標(biāo)測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉(zhuǎn)換為直線位移），這樣讀數(shù)更加方便。該實(shí)驗(yàn)儀可以作為大院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應(yīng)用。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1. 半導(dǎo)體激光器 波長 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm

　　2. 電磁鐵 zui大磁感應(yīng)強(qiáng)度約1.35T（與勵(lì)磁電源有關(guān)）

　　3. 勵(lì)磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V

　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　5．法布里－珀羅標(biāo)準(zhǔn) 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　6．讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm

　　7．法拉效應(yīng) zui小測角約 2分

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對(duì)應(yīng)的