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四探針測試儀測試儀型號：GSZ-RTS-2

便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。
本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶（多晶）廠家為硅材料的分選測試，半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

　術(shù)　　標 ：

GSZ-RTS-2測量范圍	電阻率：0.01～1999.9Ω.cm；方塊電阻：0.1～19999Ω/□；
GSZ-RTS-2恒源	電量程分為100μA、1mA兩檔，各檔電連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　分辨力：10μV；輸入阻抗：>1000MΩ；度：±0.1% ；顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本標	間距：1±0.01mm；針間緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3%；探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；探針壓力：5～16 牛頓（總力）；
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)	（見探頭附帶的合格證）
模擬電阻測量相對誤差	1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差	（用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±5%
整機測量標準不確定度	≤5%
外型尺寸	125mm（寬）145mm（）245mm（深）
標準使用環(huán)境	溫度：23±2℃；相對濕度：≤65%；無頻干擾；無強光直射；

產(chǎn)品名稱：電動涂敷器涂敷器
產(chǎn)品型號：HAD-BF-III

電動涂敷器涂敷器型號:HAD-BF-III

儀器參數(shù)
制板量：每次可分別涂敷下列規(guī)格之
200×200mm4張
200×100mm8張
200×50mm16張
100×100mm8張
100×50mm16張
涂敷制板：不平行度≤0.04mm合格率：99.5%
制板時間：10秒左右
作時間：連續(xù)作24小時
規(guī)格：長1050×寬210×150mm
電源：交220V耗：10W

儀器點
HAD-BF-III型電動涂敷器是新近研制出以不銹鋼結(jié)構(gòu)為主體的穩(wěn)定運行方式的新機型，以滿足少量制備層析板的需要。該機型運行平穩(wěn)，制板質(zhì)量，合格率可達99.5%以上，故障率低，維護方便，可廣泛應(yīng)用于薄層分析方面的定性、定量、分離鑒定。

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