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貝士德儀器科技(北京)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第11年

13810680835

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分子篩比表面積分析儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)BSD-PM

品       牌貝士德

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2024-06-21 13:33:31瀏覽次數(shù):3578次

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測(cè)試?yán)碚?/th> BET BJH HK DA DR NLDFT QSDFT 產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn)
分析站數(shù)目 1/2 價(jià)格區(qū)間 10萬(wàn)-30萬(wàn)
儀器原理 靜態(tài)法(靜態(tài)體積法) 儀器種類 比表面及孔徑分析儀
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:BSD-PM系列分子篩比表面積分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用 產(chǎn)品簡(jiǎn)介:BSD-PM系列分子篩BET比表面儀屬于研究級(jí)儀于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì),模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。

BSD-PM系列分子篩比表面積分析儀性能參數(shù):

測(cè)試?yán)碚摚?/span>

吸附、脫附等溫線測(cè)定            BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法);

朗格繆爾(Langmuir)比表面         統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面;  

BJH法孔容孔徑分布              MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布;  

D-R法微孔分析                  t-plot法(Boder)微孔分析;

H-K法(Original)微孔分析          MP法(Brunauer) 微孔分析;

DFT孔徑分析;                   真密度測(cè)試、粒度估算報(bào)告。


脫氣預(yù)處理系統(tǒng):

脫氣站數(shù)量:2預(yù)處理站;真空脫氣,不采用氣流吹掃方式;

全自動(dòng)脫氣:不采用分體式的手動(dòng)控制,而是采用與主機(jī)一體的全自動(dòng)程序控制,定時(shí)開始、真空泵自動(dòng)啟停,程序升溫、定時(shí)結(jié)束,實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守測(cè)試和樣品脫氣處理;

獨(dú) 立 性:測(cè)試系統(tǒng)和脫氣系統(tǒng)相互獨(dú)立,樣品的測(cè)試過程和脫氣處理可同時(shí)進(jìn)行;

2組獨(dú)立控溫:可設(shè)置2組不同脫氣溫度、不同脫氣時(shí)間;

脫氣模式:具有“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式"和“分子置換模式"兩種可選功能;

冷阱:具有脫氣位冷阱,保護(hù)真空系統(tǒng),提高真空度;

獨(dú)立真空系統(tǒng):不與測(cè)試位共用真空泵,脫氣系統(tǒng)配備獨(dú)立的雙級(jí)機(jī)械真空泵;

防飛揚(yáng)防污染多措施并用:

措施①:渦旋降塵原理的非阻隔式硬件防污染裝置;

措施②:程序控制的分級(jí)抽速自動(dòng)切換,防止瞬間高真空時(shí)樣品飛揚(yáng);

措施③:程序升溫,防止樣品劇烈升溫?fù)P析沸騰;

措施④:脫氣完畢程控自動(dòng)回填氮?dú)猓?/span>

分析測(cè)試系統(tǒng):

測(cè)試范圍:比表面0. 0005m2/g至無(wú)上限;

孔徑:0.35-500 nm(微孔常規(guī)分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm);

總孔體積:0.0001cc/g至無(wú)上限。

測(cè)量精度:比表面積重復(fù)精度≤± 1.0%,zui可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm,真密度 ≤±0.04%;外表面積≤± 1.5%。

分 析 站:1或2個(gè)分析站可選;

獨(dú) 立P0站:具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站,保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性。

測(cè)試系統(tǒng):根據(jù)“國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)"利用“氦氣"測(cè)試溫區(qū)體積,使測(cè)試精度更高,重復(fù)性更好。另外,也可以通過“氮?dú)?測(cè)試得到溫區(qū)體積(弊端:利用氮?dú)鉁y(cè)試溫區(qū)體積,測(cè)試過程中可能導(dǎo)致樣品部分孔內(nèi)被氮填充,影響實(shí)驗(yàn)過程中氮的實(shí)際吸附量,影響測(cè)試精度)。

氣路系統(tǒng):貝士德儀器*的BEST“模塊"歧管系統(tǒng),對(duì)基準(zhǔn)腔及控制閥門進(jìn)行整體集成設(shè)計(jì),無(wú)任何螺紋密封及管路壓接或焊接接口,將真空管路減少90%以上,*消除漏氣點(diǎn),整個(gè)系統(tǒng)漏氣率低于10-10Pa*m3/s,密封性提高10倍以上,達(dá)到進(jìn)口儀器水平,極大的提升了儀器的穩(wěn)定性和精確度;氣路系統(tǒng)各部分統(tǒng)籌進(jìn)行模塊化組裝,極大減少故障率,大幅增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性。

管路通徑:大通徑是高真空的*條件,脫氣位和測(cè)試位采用大通徑閥門和管路,使真空泵的極限真空得到zui大效果的體現(xiàn)。

控制系統(tǒng):采用日本SMC氣控閥和電磁閥組合應(yīng)用,*杜絕因電磁閥發(fā)熱產(chǎn)生的氣體受熱膨脹問題。

冷阱:脫氣氣路,分析氣路獨(dú)立雙冷阱裝置,*除去氣路中的水分、油性物質(zhì)等雜質(zhì)。

真空系統(tǒng):儀器配備兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng),既脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)相互獨(dú)立;分析位配備獨(dú)立雙級(jí)機(jī)械真空泵+德國(guó)*渦輪分子泵,極限真空達(dá)到 10-6Pa;三臺(tái)泵組成的兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)即提高了測(cè)試效率,又真正*消除了分析與脫氣在同時(shí)進(jìn)行時(shí)之間的相互影響,避免由一套真空系統(tǒng)而帶來的污染問題。

真 空 泵:(阿*Atlas copco,原英國(guó)愛德華)雙級(jí)機(jī)械真空泵+德國(guó)*渦輪分子泵,全程軟件自動(dòng)啟??刂?,實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)化操作。

壓力測(cè)量:*電容薄膜壓力傳感器,分段測(cè)試:0-1000torr,0-1torr,0-0.1torr(可選);讀數(shù)精度WU差≤0.15%,為目前壓力傳感器的zui高精度;微孔段分壓 P/P0可達(dá)到 1×10-8,點(diǎn)數(shù)大于 50 個(gè);大孔段具有 P0的實(shí)時(shí)測(cè)試功能,使 P/P0在趨于臨界點(diǎn)時(shí)的控制精度達(dá)到0.998。

液 氮 杯:配備了3L大容量小口徑玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶,相對(duì)敞口不銹鋼內(nèi)膽的保溫性能大幅提升,保溫時(shí)長(zhǎng)大于140小時(shí),可連續(xù)測(cè)試90小時(shí)以上無(wú)需添加液氮,適應(yīng)微孔長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試需求。

液位控制:貝士德*的液氮面伺服保持系統(tǒng),消除測(cè)試過程中由于液氮揮發(fā)使液氮面變化而帶來的死體積變化,提高測(cè)試精度;

標(biāo)定氣體:配備99.999%高純HE;具有HE氣死體積測(cè)試功能和溫區(qū)測(cè)試功能;可獲得更高的準(zhǔn)確性。

測(cè)試氣體:高純氮?dú)饧案鶕?jù)用戶需要可選擇多種氣體,如,CO2,Ar,Kr等,配有多路獨(dú)立進(jìn)氣口。

樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。

售后服務(wù):專業(yè)且完善的售后服務(wù)系統(tǒng),可提供24小時(shí)咨詢,48小時(shí)內(nèi)上門服務(wù),北京,上海,廣州均設(shè)有服務(wù)機(jī)構(gòu),全力保障用戶儀器正常運(yùn)行;

BSD-PM系列分子篩比表面分析儀技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)

集成式“模塊化"歧管系統(tǒng)

模塊化管路設(shè)計(jì),將真空管路減少90%以上,儀器氣密性提高10倍,極大的提升了儀器的穩(wěn)定性和精確度;氣路系統(tǒng)各部分統(tǒng)籌進(jìn)行模塊化組裝,減少漏氣點(diǎn),方便故障排查及維修,大幅增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性。  

l 控制系統(tǒng)

采用*(日本SMC)氣控閥和電磁閥組合應(yīng)用,通過電磁閥控制氣控閥的開關(guān),氣控閥直接與模塊管路連接,氣控閥的開關(guān)動(dòng)作不發(fā)熱,*杜絕因電磁閥發(fā)熱產(chǎn)生的氣體受熱膨脹問題。

l 雙冷阱

脫氣氣路和分析氣路獨(dú)立的雙冷阱裝置,*除去氣路中的水分、油性物質(zhì)等雜質(zhì)

l 獨(dú)立P0測(cè)試站

具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站,保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性。

(靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸氣壓測(cè)試裝置,號(hào):ZL201120136959.X)

l 飽和蒸氣壓螺旋P0管:

采用螺旋狀的P0管作為飽和蒸汽壓管,與儀器主機(jī)連接,能夠更快的達(dá)到液氮溫度,是的測(cè)試的飽和蒸汽壓更接近真實(shí)值(與進(jìn)口等溫夾的效果一樣,解決了直形不銹鋼P(yáng)0管測(cè)試結(jié)果偏大2%的問題),提高測(cè)試精度。 (飽和蒸氣壓螺旋P0管及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀,號(hào):ZL201620716311.2)


l 液氮杯自動(dòng)加蓋功能

具有液氮杯自動(dòng)加蓋功能,能有效的減少液氮的揮發(fā),同時(shí)也可避免水蒸氣在杜瓦杯口和樣品管上冷凝結(jié)冰,

(靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的加蓋裝置 號(hào) ZL 201420148358.4)

l 軟硬件配合,*消除揚(yáng)析沸騰現(xiàn)象

貝士德*的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置,結(jié)合軟件防抽飛程序*消除易揮發(fā)樣品在高真空時(shí)的揚(yáng)析沸騰現(xiàn)象,從而避免了揮發(fā)物污染閥門管路后造成系統(tǒng)氣密性下降的情況。

(具有除塵防污染裝置的靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀,號(hào):ZL201320045881.X)

l 貝士德*的脫氣位濾塵袋,*消除對(duì)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染

結(jié)合貝士德*的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置,能夠在不降低現(xiàn)有氣體流導(dǎo)前提下實(shí)現(xiàn)粉塵過濾功能,*杜絕粉末樣品對(duì)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染,抽真空脫氣時(shí)間縮短、效果提高。

(具有脫氣位濾塵袋裝置的靜態(tài)法物理吸附儀,號(hào):ZL201620714986.3)    

l 可選處理模式

具有國(guó)內(nèi)外*的樣品預(yù)“處理普通模式"和“分子置換模式"兩種模式。

(靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的凈化預(yù)處理裝置,號(hào):ZL201120136943. 9)    

l 真空泵自動(dòng)啟停管理

優(yōu)化的真空泵啟停管理系統(tǒng),在測(cè)試過程中真空泵無(wú)需一直處于運(yùn)行狀態(tài),減小噪音,延長(zhǎng)真空泵壽命。

l 斷電自動(dòng)保存當(dāng)前數(shù)據(jù)

*的穩(wěn)定性,即使意外斷電、斷線,不會(huì)丟失當(dāng)前數(shù)據(jù),且實(shí)驗(yàn)可恢復(fù)繼續(xù)進(jìn)行。

l 人性化操作界面

清晰形象的圖形化控制界面,并可在界面上進(jìn)行所有硬件的控制操作。

l 密封性自檢

*進(jìn)的智能自檢流程,智能判斷樣品管是否安裝,試管夾套是否擰緊有無(wú)漏氣。

l 高智能化工作模式

交互式數(shù)據(jù)處理軟件可實(shí)現(xiàn)儀器的全自動(dòng)運(yùn)行,長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)無(wú)需人工值守,可根據(jù)用戶需要定制報(bào)告內(nèi)容。

l 杜絕液氮杯意外下降

具有國(guó)內(nèi)的液氮杯防意外“安全下降"智能控制機(jī)制,*避免了液氮杯意外下降氣體膨脹使樣品管爆裂的危險(xiǎn)。


BSD-PM系列分子篩比表面積分析儀適用標(biāo)準(zhǔn)

1. GB.T 5816-1995催化劑和吸附劑表面積測(cè)定法

2. GB.T 7702.21-1997煤質(zhì)顆?;钚蕴吭囼?yàn)方法比表面積的測(cè)定

3. GB.T 10722-2003炭黑_總表面積和外表面積的測(cè)定氮吸附法

4. GB.T 11847-89二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定多點(diǎn)BET法

5. GB.T 13390-1992 金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸收法(含動(dòng)態(tài))

6. GB.T 19587-2004氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積(含動(dòng)態(tài))

7. GB.T 20170.2-2006稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物比表面積的測(cè)定

8. GB.T 21650.3-2011/ISO 15901-3: 2007壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第3部 分:氣體吸附法分析微孔

9. GB.T 21650.2-2008/ISO 15901-2: 2006壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第2部分 氣體吸附法分析介孔和大孔

10. SY/T 6154-1995 巖石比表面和孔徑分布測(cè)定 靜態(tài)氮吸附容量法

11. HG/T 2347.8-1992 γ-Fe2O3磁粉比表面積的測(cè)定


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