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應(yīng)用領(lǐng)域	電子,綜合

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。

ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀采用下照式設(shè)計(jì)，搭載先進(jìn)的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，都能夠快速、精準(zhǔn)、無(wú)損檢測(cè)，可輕松應(yīng)對(duì)鍍層領(lǐng)域的表面處理的過(guò)程控制、產(chǎn)品質(zhì)