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該儀器是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容值（Cx）的自動(dòng)化儀器?？梢栽诠ゎl高電壓下，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容值（Cx）。
產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀 概述：
DD.13-SB2204/3型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容值（Cx）的自動(dòng)化儀器?？梢栽诠ゎl高電壓下，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容值（Cx）。與西林電容電橋相比，具有操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)測(cè)量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗*力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。儀器內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容器和升電壓裝置，在“內(nèi)接”方式下使用，無需其它外接設(shè)備，便于攜帶。具有多種測(cè)量方式，可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。正接線可測(cè)量高壓介損。內(nèi)附SF6標(biāo)準(zhǔn)電容器，tgδ<0.005%，受空氣濕度影響小，矢量運(yùn)算法結(jié)合移相、倒相法，抗干擾效果好；能有效地消除強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響，適用于500kV極其以下電站的強(qiáng)干擾現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。
主要特點(diǎn)：
高壓短路和突然斷電時(shí)，儀器能迅速切斷高壓，并發(fā)出警告信息。
測(cè)量重復(fù)性好，電壓線性好（測(cè)量準(zhǔn)確度不受電壓影響）。
一體化結(jié)構(gòu)，重量適中，便于攜帶。
大屏幕帶背光中文液晶顯示器信息提示操作，使用方便。
儀器自帶打印機(jī)，及時(shí)保存測(cè)試數(shù)據(jù)。
高壓電纜連接至試品，保障安全；儀器未接地報(bào)警，安全措施完備。
技術(shù)指標(biāo)
額定工作條件：溫度0～40℃，相對(duì)濕度：30%～85%，供電電源220V±22V 50±1Hz
外形尺寸：440×330×400mm
重量:不大于23kg
功耗:不大于40VA
測(cè)量范圍：介質(zhì)損耗（tgδ） 0～1分辨率0.0001；電容量（Cx）:zui小分辨率0.01pF
內(nèi)接方式：試驗(yàn)電壓試品電容量5kV 7.5kV 10kV 3pF～40000PF
1.5kV 2.25kV 3Kv 10pF～0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV 30pF～1.5μF
外接方式：“外接升壓器”方式zui高試驗(yàn)電壓10kV，“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器）zui高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定（Umax=Imax/ωC）
標(biāo)準(zhǔn)回路zui大電流50mA（In=UωCn）被試回路zui大電流2A（Ix=UωCx）
內(nèi)部升壓器輸出能力：輸出電壓額定輸出電流5kV 7.5kV 10kV 100mA；1.5kV 2.25kV 3kV 300mA；0.5kV 0.75kV 1kV 500mA
基本測(cè)量誤差：
測(cè)量?jī)?nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍（Cx） | 試品類型 | 基本誤差 |
介質(zhì)損 耗因數(shù) tgδ | 0～0.5 | 50pF～60000pF | 非接地 | ±（1%讀數(shù)+0.0005） |
接地 | ±（1%讀數(shù)+0.0010） | |||
10pF～50pF或 60000pF以上 | 非接地 | ±（1%讀數(shù)+0.0010） | ||
接地 | ±（2%讀數(shù)+0.002） | |||
3pF～10pF | 非接地 與接地 | |||
電容量 | 50pF以上 | ±（1%讀數(shù)+1pF） | ||
50pF以下 | ±（1%讀數(shù)+2pF） |
工作原理
儀器測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被試回路，標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由8031單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對(duì)數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算，分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值（Cx）和介質(zhì)損耗角正切（tgδ），測(cè)量結(jié)果可靠。現(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí)，先利用移相、倒相法減小干擾的影響，再將被試回路測(cè)`得的電流Ix′與單獨(dú)測(cè)得的干擾電流Id矢量相加，得到真正的測(cè)量電流Ix，進(jìn)而得出正確的測(cè)量結(jié)果。由圖3可見，可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要，靈活地采用多種接線方式。如測(cè)量非接地試品（正接法）時(shí)，“LV”（E）點(diǎn)接地；而測(cè)量接地試品（反接法）時(shí)，則“HV”點(diǎn)接地。