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該儀器是近年來隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展而迅速發(fā)展起來的光學無損檢測方法，它已越來越廣泛的用于介電、半導體、金屬、有機物等各種材料的光學特性、結(jié)構(gòu)特征、生長過程和材料質(zhì)量的快速測試與研究。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
橢圓偏振光譜儀 WD.15-TY 概述：
橢圓偏振光譜技術(shù)是近年來隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展而迅速發(fā)展起來的光學無損檢測方法，它已越來越廣泛的用于介電、半導體、金屬、有機物等各種材料的光學特性、結(jié)構(gòu)特征、生長過程和材料質(zhì)量的快速測試與研究。
我公司經(jīng)營銷售的紅外橢圓偏振光譜一是當今上*一種紅外波段、單色儀光譜型的橢圓偏振光譜儀，它具有高準確度，高精度和比基于紅外傅里葉光譜儀的橢偏光譜儀便宜得多等優(yōu)點，紫外-近紅外波段全自動橢圓偏振光譜儀、可見波段全自動橢圓偏振光譜儀、單色自動橢圓偏振分析儀、自動橢圓偏振測厚儀等全波段系列產(chǎn)品，其性能參數(shù)都達到國內(nèi)、較好水平。