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目錄:先鋒科技(香港)股份有限公司>>光度色度>>LCD/OLED缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)>> TruetestLCD/OLED缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

LCD/OLED缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
  • LCD/OLED缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
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在本文中,我們將描述如何在全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中使用影像亮度色度計(jì),在高速度、大批量的生產(chǎn)環(huán)境中識(shí)別和量化缺陷。本文內(nèi)容涵蓋測(cè)試設(shè)置,以及可以執(zhí)行的測(cè)試范圍 – 從簡(jiǎn)單的點(diǎn)缺陷檢測(cè)到復(fù)雜的 Mura檢測(cè)和評(píng)估。

如何使用影像亮度色度計(jì)進(jìn)行 FPD 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)
 

在產(chǎn)線上及產(chǎn)線的zui終檢測(cè)中,主要有三種方法可對(duì)高速生產(chǎn)過(guò)程中的平板顯示屏 (FPD) 進(jìn)行光學(xué)檢測(cè):
 
1) 人工檢測(cè) —— 輕松處理比較復(fù)雜的測(cè)試要求。但與電子測(cè)試方法相比,它相對(duì)緩慢,變化較大
2) 基于機(jī)器視覺(jué)的檢測(cè) —— 非常快捷,測(cè)試簡(jiǎn)單。但很多測(cè)試不能反映出人的視覺(jué)體驗(yàn)
3) 基于影像亮度色度計(jì)的檢測(cè) —— 在速度上介于上述兩種方法之間。能夠像人那樣進(jìn)行“目測(cè)”,而且具有高度的可靠性和可重復(fù)性
 
使用影像亮度色度計(jì)系統(tǒng)和相關(guān)分析軟件,可以評(píng)估 FPD 的亮度、色彩均勻度和對(duì)比度,并識(shí)別 FPD 上的缺陷,這種用途已經(jīng)被廣為接受。影像亮度色度計(jì)和機(jī)器視覺(jué)之間的基本差別在于:影像亮度色度計(jì)可以地匹配人類(lèi)視覺(jué)感知,包括對(duì)光線和色彩均勻度 (以及不均勻性 )的感知。
 
在本文中,我們將描述如何在全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中使用影像亮度色度計(jì),在高速度、大批量的生產(chǎn)環(huán)境中識(shí)別和量化缺陷。本文內(nèi)容涵蓋測(cè)試設(shè)置,以及可以執(zhí)行的測(cè)試范圍 – 從簡(jiǎn)單的點(diǎn)缺陷檢測(cè)到復(fù)雜的 Mura檢測(cè)和評(píng)估。

 
測(cè)量挑戰(zhàn)
影像亮度色度計(jì)系統(tǒng)是基于 CCD 的影像系統(tǒng),經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)之后,它對(duì)光線、亮度和色彩的反應(yīng)與 CIE 模型定義的標(biāo)準(zhǔn)人工觀察者相同??傻赝瑫r(shí)測(cè)量亮度、色彩及其空間關(guān)系。測(cè)試時(shí),系統(tǒng)會(huì)生成數(shù)據(jù),并可隨時(shí)使用這些數(shù)據(jù)來(lái)確定顯示屏均勻性和對(duì)比度性能。此外,還可對(duì)均勻度差異進(jìn)行分析,以識(shí)別和定位潛在的顯示屏缺陷。顯示屏測(cè)量和分析面臨的三大重要挑戰(zhàn)是:
 
1) 識(shí)別與人類(lèi)視覺(jué)感知具有高度關(guān)聯(lián)性的缺陷
2) 量化缺陷的嚴(yán)重程度
3) 快速執(zhí)行高重復(fù)度的分析
 
缺陷的分析和量化可以作為依據(jù),幫助我們確定導(dǎo)致缺陷的顯示屏組件,以及接下來(lái)采取的行動(dòng) – 例如廢棄顯示屏或返回進(jìn)行修理 – 從而提高質(zhì)量測(cè)試的效率,還可以降低成本。與人工視覺(jué)檢測(cè)相比,使用影像亮度色度計(jì)的測(cè)試更加快捷和靈活,重復(fù)度更高,另外它在匹配人類(lèi)視覺(jué)感知方面的度高于機(jī)器視覺(jué)。
 
影像亮度色度計(jì)可以地捕獲 FPD 上的光線和色彩變化的空間關(guān)系,這一優(yōu)點(diǎn)使得這種測(cè)試方法非常適用于評(píng)估視覺(jué)性能。

 
測(cè)量組件和測(cè)試
通過(guò)適當(dāng)?shù)淖詣?dòng)測(cè)試序列,影像亮度色度計(jì)可用于獲取廣泛、的高分辨率數(shù)據(jù),以描述特定顯示屏的性能。對(duì)于典型測(cè)試序列,此類(lèi)測(cè)量數(shù)據(jù)通??稍趲酌腌娭烈环昼娭畠?nèi)獲取,具體時(shí)間取決于顯示屏技術(shù)和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技術(shù),這些影像可用于確定與物理原因直接相關(guān)的各種缺陷之間的細(xì)微差異。
 
要使用影像亮度色度計(jì)進(jìn)行顯示屏的自動(dòng)測(cè)量和分析,需要使用組合測(cè)量控制和分析軟件。我們針對(duì)此應(yīng)用開(kāi)發(fā)的系統(tǒng)整體結(jié)構(gòu)如圖 1 所示。該系統(tǒng)的主要組件包括:(1) 科研級(jí)影像亮度色度計(jì)系統(tǒng);(2) 基于 PC 的測(cè)量控制軟件,它不僅控制影像亮度色度計(jì),還控制待測(cè)試設(shè)備上的測(cè)試影像顯示;以及 (3) 一套能夠運(yùn)行各種測(cè)試的影響分析函數(shù)。因此,該系統(tǒng)可針對(duì)各種顯示屏缺陷 (例如點(diǎn)缺陷、線缺陷和 Mura)提供量化自動(dòng)檢測(cè)。
 
實(shí)施的部分測(cè)試包括:

圖 1. FPD AOI 測(cè)試設(shè)置,影像亮度色度計(jì)處在自動(dòng)軟件控制下
 


顯示屏缺陷檢測(cè)應(yīng)用
顯示屏缺陷分為很多類(lèi)型,例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵點(diǎn) (例如脫層 )、屏幕損壞 (例如劃痕 )、影像均勻度的疵點(diǎn) (例如 Mura)。利用對(duì)視覺(jué)感知的研究,我們可以根據(jù)人工觀察者發(fā)現(xiàn)這些缺陷的明顯程度 (或者是否明顯 ),通過(guò)數(shù)字方式對(duì)這些缺陷進(jìn)行分類(lèi)。這個(gè)分析過(guò)程速度很快,而且重復(fù)度很高。它適用于多種顯示屏技術(shù),包括液晶、等離子、OLED 和投影顯示屏。
 
在本文中,我們通過(guò)分析多個(gè)顯示屏,演示這些缺陷檢測(cè)和分類(lèi)方法。圖 2 顯示了存在行缺陷的顯示屏的光學(xué)測(cè)量,分析軟件在顯示屏影像上識(shí)別和指示這個(gè)缺陷,如圖 3 所示。行缺陷是一種比較容易確定根源的缺陷;其起因是液晶屏故障。
   

圖 2.存在可視行缺陷的顯示屏屏幕的光學(xué)測(cè)量。          圖 3.行缺陷是由影像亮度色度計(jì) AOI 軟件識(shí)別的;屏幕上為用戶指明了缺陷位置。
 
圖 4 顯示了存在點(diǎn)缺陷的顯示屏的光學(xué)測(cè)量;分析軟件在顯示屏影像上識(shí)別和指示這個(gè)缺陷,如圖 5 所示。如果分析確定該故障的起因是液晶屏像素停滯,則可將點(diǎn)缺陷歸類(lèi)為像素故障。但是,從單個(gè)角度直視并不能區(qū)分死像素與顯示屏玻璃背面微粒之間的差異。在此情況下,需要進(jìn)行第二道檢驗(yàn)以識(shí)別故障原因。
   
圖 4.存在點(diǎn)缺陷的顯示屏的光學(xué)測(cè)量 – 您能看到嗎?    圖 5.點(diǎn)缺陷是由影像亮度色度計(jì) AOI 軟件識(shí)別的,并在顯示屏屏幕上標(biāo)記,我們放大了該點(diǎn),讓它更容易看到。


Mura的檢測(cè)和分類(lèi)可能比較復(fù)雜。 Mura通常是亮度和色彩的不均勻性,覆蓋較大的不規(guī)則區(qū)域。如果發(fā)現(xiàn)亮度和色彩對(duì)比度超過(guò)了可感知的閾值,則表示檢測(cè)出 Mura。但是,由于人工感知這些對(duì)比度取決于多個(gè)因素,包括視距、空間頻率和方向,因此我們無(wú)法通過(guò)查看對(duì)比度的簡(jiǎn)單值,來(lái)識(shí)別相關(guān) Mura。
 
在對(duì)顯示屏缺陷的人類(lèi)視覺(jué)感知建模方面,我們zui近取得了進(jìn)展,這使我們能夠從“zui小可覺(jué)差”(JND)的角度來(lái)量化 Mura?;谌斯び^察員的采樣,我們定義了 JND 標(biāo)度,如果 JND 差異為 1,則從統(tǒng)計(jì)上無(wú)法察覺(jué);在標(biāo)度上,JND 為 0,表示沒(méi)有可視的空間對(duì)比度,JND 值為 1,表示*個(gè)可察覺(jué)空間對(duì)比度 – 這樣就能針對(duì)各種顯示屏技術(shù)對(duì)顯示缺陷進(jìn)行分級(jí)。因此,我們可以處理亮度和色彩的空間分配的影像亮度色度計(jì)測(cè)量,以創(chuàng)建影像的 JND 映射,其中 Mura缺陷在與人類(lèi)視覺(jué)感知直接關(guān)聯(lián)的前提下進(jìn)行了分級(jí)。
圖 6 顯示了存在 Mura缺陷的顯示屏,經(jīng)過(guò)分析后,我們?cè)陲@示屏影像上識(shí)別了該缺陷,如圖 7 所示。
     
圖 6.對(duì)存在 Mura缺陷的顯示屏進(jìn)行影像亮度色度計(jì)測(cè) 量,您能夠找到這個(gè)缺陷嗎?


圖 7.該 Mura缺陷是由影像亮度色度計(jì) AOI 軟件在顯示屏上識(shí)別的。它的范圍與 JND 值一同顯示。
 

圖 8 和圖 9 顯示了識(shí)別 Mura的步驟。作為中間步驟,它會(huì)生成一個(gè)差異影像,顯示相對(duì)于參考影像的亮度偏差。然后計(jì)算顯示屏的 JND 映射。請(qǐng)注意,圖 7 所示的 Mura測(cè)試有意忽略了 JND 影像中的明顯邊緣效應(yīng)。這些效應(yīng)可以簡(jiǎn)單地單獨(dú)識(shí)別和分類(lèi)。
識(shí)別 Mura缺陷并不是基于各區(qū)域之間的對(duì)比度計(jì)算的簡(jiǎn)單數(shù)學(xué)計(jì)算。首先, Mura區(qū)域的大小和形狀各不相同。其次,人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制約 – 視頻、空間頻率和色彩。
     
圖 8.差異圖片顯示了相對(duì)于計(jì)算參考影像的偏離。Mura的位置突出顯示。


圖 9.顯示了顯示屏 JND 映射的“偽彩色圖像”。顯示屏邊緣的漏光和明顯 Mura缺陷標(biāo)識(shí)為較大的 JND 值。


 
基于影像亮度色度計(jì)的 AOI 測(cè)試系統(tǒng)可以快速可靠地識(shí)別和量化顯示屏缺陷。為確定或分類(lèi)缺陷根源,從而確定顯示屏的狀態(tài),有時(shí)需要人工檢測(cè)。很多情況下,例如圖 3 所示的行缺陷,識(shí)別的缺陷及其起因之間存在一對(duì)一關(guān)系。在這些情況下,我們可以即時(shí)對(duì)缺陷進(jìn)行分類(lèi),而且無(wú)需人工檢測(cè)。而在其他一些情況下,例如某些 Mura缺陷,缺陷可能有多種原因,因此我們需要更多信息幫助進(jìn)行分類(lèi)。執(zhí)行這種分類(lèi)的一種高效方法是讓人工操作員確定哪種原因是正確的。當(dāng)需要人工分類(lèi)時(shí),為了提高效率,TrueTest 會(huì)向操作員指示需要進(jìn)一步檢驗(yàn)的缺陷的位置和詳細(xì)信息??梢栽谌斯づ袛嗷A(chǔ)上進(jìn)行加速,例如專門(mén)針對(duì)需要分類(lèi)的缺陷,以及提供適當(dāng)?shù)募?xì)節(jié)。
 
對(duì)于圖 4 和 圖 5 中所示的點(diǎn)缺陷,操作員可以知道暗點(diǎn)的準(zhǔn)確位置和相關(guān)信息,從而快速確定該缺陷是死像素,還是顯示屏玻璃背面的微粒。
 
總結(jié)
本文檔所述的影像亮度色度計(jì) AOI 測(cè)試方法可以應(yīng)用于多種顯示屏技術(shù), FPD(液晶、等離子、OLED)和投影顯示屏均可使用。這些方法提供與人工視頻感知相關(guān)的快速可重復(fù)測(cè)量,能夠通過(guò)數(shù)字方式標(biāo)識(shí)缺陷特征,因而不僅可以識(shí)別顯示屏缺陷,還能夠按原因?qū)θ毕葸M(jìn)行分類(lèi)。這使我們能夠在制造應(yīng)用中對(duì)顯示屏進(jìn)行*測(cè)量,并根據(jù)用戶定義的標(biāo)準(zhǔn),自動(dòng)確定顯示屏是否通過(guò)測(cè)試。更加重要的是,它還可以自動(dòng)確定修補(bǔ)措施 (例如返工或廢棄 )。


 

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