X射線光譜EDX4500分析儀性能參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X射線光譜分析儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
信噪比增強(qiáng)器 SNE
鋼鐵行業(yè)測(cè)試配件
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
真空泵
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏

X射線光譜EDX4500分析儀性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際良好水平
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度