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edx能譜EDX2000H分析儀

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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 EDX2000H
  • 品牌 SanX/三翔
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 深圳市
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更新時間:2024-01-09 20:38:14瀏覽次數(shù):2807

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產(chǎn)品簡介

edx能譜EDX2000H分析儀是一款X射線無損設(shè)備,主要應(yīng)用于合金檢測、鍍層分析、ROHS有害物質(zhì)測試、礦石元素分析、土壤分析等元素含量分析,EDX2000H能譜分析儀*于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
不添加任何硬件設(shè)施既可升級分析功能,方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類。

詳細(xì)介紹

能譜合金分析儀

QQ截圖20171207110503.jpg

edx能譜分析儀是一款X射線無損設(shè)備,主要應(yīng)用于合金檢測、鍍層分析、ROHS有害物質(zhì)測試、礦石元素分析、土壤分析等元素含量分析。

EDX2000H能譜分析儀*于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析

不添加任何硬件設(shè)施既可升級分析功能,方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類

采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低

檢測時間短,可以大大提高工作效率

應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提供了產(chǎn)品的可靠性

利用新X光管提高儀器的測試效率,并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級

 

edx能譜EDX2000H分析儀性能特點(diǎn)

 

下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求

移動平臺:精細(xì)的手動移動平臺,方便定位測試點(diǎn)

高分辨率探測器:提高分析的準(zhǔn)確性

準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應(yīng)用

新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,實現(xiàn)更高的測試效率

 

edx能譜EDX2000H分析儀技術(shù)指標(biāo)

 

多變量非線性回歸程序

分析含量一般為ppm到99.99%

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

分析檢出限可達(dá)ppm

儀器重量:45kg

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)

電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率:160±5eV

樣品腔尺寸:460×298×98mm

儀器尺寸:550mm×410mm×320mm

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

 

移動樣品平臺

高低壓電源

新型X光管

計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

電制冷Si-PIN探測器

信號檢測電子電路

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

黃銅成分分析,以及銅合金、鋅合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析

 

能譜礦石分析儀

QQ截圖20171207130112.jpg

EDX3600K能譜分析儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學(xué)研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學(xué)會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術(shù)達(dá)到國際良好水平。X熒光光譜儀屬于良好的分析檢測儀器,隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式,轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算(計算機(jī))一體化、自動化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ),結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型能譜分析儀。

 

儀器配置

 

鈹窗電制冷SDD探測器

自旋式樣品腔

高效超薄窗X光管

信噪比增強(qiáng)器SNE

超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)

可自動開啟的測試蓋

自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

真空腔體

自動穩(wěn)譜裝置

90mm×70mm的液晶屏

良好的數(shù)字多道技術(shù)

多變量非線性回歸程序

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

 

技術(shù)參數(shù)

 

型號:EDX3600K

X射線源:50KV、1mA

樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm

分析方法:能量色散X熒光分析方法

測量元素范圍:原子序數(shù)為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量

檢測元素:同時分析元素達(dá)三十多種,可根據(jù)客戶需要增加元素

含量范圍:ppm~99.99%

檢測時間:10秒以上

檢測對象:標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇

攝像頭:高清攝像頭

測井環(huán)境:超真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以

準(zhǔn)直器和濾光片:四組準(zhǔn)直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換

自旋裝置:可調(diào)速的自旋裝置

檢出限:對樣品中的大多數(shù)元素來說,檢出限達(dá)5~500ppm

真空系統(tǒng):超真空系統(tǒng),10秒可到10Pa

數(shù)據(jù)傳輸:數(shù)字多道技術(shù),快速分析,高計數(shù)率

測試臺:360°電動旋轉(zhuǎn)式

保護(hù)系統(tǒng):樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成

樣品放置:*的樣品杯設(shè)計,自帶壓環(huán),可防止樣品晃動

數(shù)字多道技術(shù):計數(shù)率>50kcps,有效計數(shù)率高至500kcps

外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG

操作環(huán)境濕度:≤90%

操作環(huán)境溫度:15℃~30℃

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款高端設(shè)備,主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。

同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。

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