小型高低溫沖擊試驗箱產品用途：

高低溫沖擊試驗箱用于測試材料瞬間溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機電產品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗

小型高低溫沖擊試驗箱特點：

1、采用氣動控制，提籃在高低溫室內切換轉移，

2、轉換時間短，溫度恢復時間短，溫變速度快，

3、采用兩箱法，新一代外觀設計，整體結構緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。

4、既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。

5、備有高檔萬向滾輪，方便在實驗室內移動。

6、真空雙層加熱觀察窗，自帶照明。

7、多數據接口，SD卡儲存，USB輸出，電腦APP遠程操作。

技術參數

1、提籃有效容積 27L

2、規(guī)格尺寸：外寬深高：750×2100×1900mm，內520×600×600mm

3、提籃尺寸：300×300×300mm

4、高溫預溫度范圍：60℃～+180℃

5、低溫預溫度范圍：-10℃～-60℃

6、溫度沖擊范圍：-40℃～+120℃

7、提籃轉換時間：≤10S

8、溫度恢復時間：≤5min

9、溫度波動度：≤±0.5℃

10、溫度均勻度：≤2℃

11、溫度偏差：≤±2℃

12、高溫預熱時間：20℃～180℃≈30min、

13、低溫預冷時間：20℃～-60℃≈75min

14、總功率：≈12kw

15、運行功率：≈8KW

16使用電壓：AC220   50Hz 

滿足標準及試驗方法

GB11158-2008高溫試驗箱技術條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗