熱流法導(dǎo)熱系數(shù)測定儀

  型號：TC-DRL-Ⅱ

產(chǎn)品編號：TC-001369

主要測試薄的熱導(dǎo)體、固體電緣材料、導(dǎo)熱樹脂、硅膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的導(dǎo)熱系數(shù)，加圍框可檢測膠狀材料、粉狀材料。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導(dǎo)性固體電緣材料傳熱性能的測試標(biāo)準(zhǔn)）等。廣泛應(yīng)用在大中院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測。

 熱流法導(dǎo)熱系數(shù)測定儀

XK-DRL-Ⅱ?qū)嵯禂?shù)測試儀（熱流法） 主要參數(shù)
1、試樣大?。?Phi;30mm ；
2、試樣厚度：0.02-10mm ；
3、溫度范圍：40-150℃，或室溫-300℃；
4、帶有真空裝置，保證測試環(huán)境不受外界干擾，真空度：-0.09MPa ；
5、連接上位機實現(xiàn)計算機自動測試，并實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。
6、電源：220V/50HZ ；
7、測試范圍：0.015～45W/m•k ；
8、測試精度：3％；

導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 型號：DRE-2C

DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測定儀(瞬態(tài)平面熱源法) 
DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk作為探頭的導(dǎo)熱系數(shù)測定儀。 
DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測試儀Hot Disk法的優(yōu)點有： 
(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間； 
(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響； 
(3)無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面。 
 DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測試儀主要技術(shù)指標(biāo)： 
1、導(dǎo)熱系數(shù)測定范圍：0.01—100W/mk 
2、測量時間：1-600秒 
3、準(zhǔn)確度：優(yōu)于5％ 
4、溫度范圍：標(biāo)準(zhǔn)測量：室溫，(可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測試溫度，費用另計：如-20℃～120℃) 
5、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對平整的樣品表面

高溫材料導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 型號： DRX-Ⅱ-RW  
一：儀器概述  
該熱物性測試儀采用良好的瞬變熱流法及縱向熱流技術(shù)，具有方便、快捷、精確的特點，可用來測量各種不同類型材料的熱導(dǎo)率、熱擴散率以及熱熔，適用的熱導(dǎo)系數(shù)范圍0.015-100W/MK之間，適用樣品類型：固體、粉末材料。參照標(biāo)準(zhǔn)GB5598-85,GB3399-82,GB11205-89. 適應(yīng)ASTM D5470，但它也使用熱結(jié)構(gòu)-函數(shù)分析以使結(jié)果更精確，符合MIL-I-49456A，緣片材，導(dǎo)熱樹脂，熱導(dǎo)玻纖等。  
    該儀器可自動測試薄的導(dǎo)熱材料的熱阻抗與熱導(dǎo)率參數(shù)。這些材料一般在電子封裝業(yè)普遍使用，也可以測試一些軟的或硬的、半液體或粘性的材料。熱導(dǎo)率是描述材料熱傳導(dǎo)性能的重要參數(shù)。儀器通?？梢赃m應(yīng)測定熱導(dǎo)率范圍從高到中等的材料，接觸壓力范圍在10-550psi（70-3800Kpa）手動加壓或液壓，樣品溫度范圍為常溫，也可到20—1200℃，后者需要定制裝置。 測試時，樣品被箝緊在兩個平行的導(dǎo)熱面之間（或者選擇懸浮式非平行面），一面是加熱面，一面是冷卻面，所有數(shù)據(jù)通過計算機測試軟件采集并分析輸出結(jié)果。  
二：主要技術(shù)參數(shù)  
1. 樣品尺寸：固體樣品要求在直徑15-50mm(定做60—100mm),厚度在10—15mm  
2. 導(dǎo)熱系數(shù)范圍：0.5-100w/MK，精度≤±3%,重復(fù)性≤±1%  
3．熱擴散率測量精度：5%  
4.比熱測量精度：7%（需配比熱測試模塊）  
5. 溫度范圍：常溫-1200攝氏度(精度±1攝氏度)   
6. 接觸壓力范圍：50-650kPa （手動）  
7. 接觸壓力精度：±3% （帶顯示裝置時）  
8. 樣品有效測量厚度：0-9mm   
9. 外接循環(huán)冷卻液   
10.配有完整的測試系統(tǒng)及軟件平臺。  
11.操作采用全自動熱分析測試軟件，快速準(zhǔn)確對樣品進行試驗過程參數(shù)分析和報 告輸出。  
12．圖片僅參考，以出廠為準(zhǔn)。  
   
儀器配置  
1、測試主機               一臺  
2、計算機（不帶打印機）     一套  
3、測試軟件               一套（光盤）  
4、說明書                 一份  
5、合格證                 一份  
6.恒溫水槽                一臺  
7.高溫爐                  一臺

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針電阻率測試儀 產(chǎn)品型號：SX1944

數(shù)字式四探針電阻率測試儀型號：SX1944

產(chǎn)品說明   
 　　 四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導(dǎo)體廠家、太陽能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究?！?nbsp;  
產(chǎn)品特點   
 　　四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器。    
　　儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關(guān)控制，及各種工作狀態(tài)LED指示。應(yīng)用微計算機技術(shù)，使得測量讀數(shù)更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。   
　型號SX1944 
測量范圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω 
可測半導(dǎo)體材料尺寸直徑：Φ15～100mm 
測量方位軸向、徑向均可 
數(shù)字電壓表⑴量程： 200mV 
⑵誤差：± 0.1% 讀數(shù)± 2 字 
⑶大分辨力：10μV 
顯示 : 4位半數(shù)字顯示。小數(shù)點自動顯示 

數(shù)控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。 
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA 
⑶誤差：± 0.5% 讀數(shù)± 2 字 

四探針測試探頭⑴探 針 間 距： 1mm 
⑵探針機械游移率： ± 1.0% 
⑶探 針： 碳化鎢，Φ 0.5mm 
⑷壓 力： 0 ～ 2kg 可調(diào) , 大壓力約 2kg 

電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 
外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高） 
備注USB 接口，配軟件

產(chǎn)品名稱：便攜式濁度計 濁度計 產(chǎn)品型號：WGZ-1B

便攜式濁度計 濁度計 型號 WGZ-1B

用途概述 Summary of functions

用于測量懸浮于水或透明液體中不溶性顆粒物質(zhì)所產(chǎn)生的光的散射程度，并能定量表征這些懸浮顆粒物質(zhì)的含量?？梢詮V泛應(yīng)用于發(fā)電廠、純凈水廠、自來水廠、生活污水處理廠、飲料廠、環(huán)保部門、工業(yè)用水、制酒行業(yè)及制藥行業(yè)、防疫部門、醫(yī)院等部門的濁度測量。

產(chǎn)品特點 Product Characteristics

?流線形外型設(shè)計，簡潔的操作和較高的性價比

?大屏幕LCD數(shù)字清晰顯示，采用低漂移、高精度電路系統(tǒng)

?色度補償，有效避免試樣顏色引起的干擾，能正確反映濁度的概念

?高強度長壽命光源，無更換之憂慮，30秒預(yù)熱時間即可正常工作