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      德國E+H恩德斯豪斯物位計(jì)工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式的高度進(jìn)行檢測

物位測量通常指對工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進(jìn)行檢測，如果是對物料高度進(jìn)行連續(xù)的檢測，稱為連續(xù)測量。如果只對物料高度是否到達(dá)某一位置進(jìn)行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務(wù)的儀表叫做E+H物位計(jì)。

靜壓型E+H物位計(jì)：用于槽罐或容器內(nèi)的物位測量，可直接安裝或通過遠(yuǎn)傳密封組件安裝。

超聲波E+H物位計(jì)：用于液體和顆粒狀固體等物位的監(jiān)控。

雷達(dá)E+H物位計(jì)：波束角?。ㄗ钚?度）,能量集中，具有更強(qiáng)抗干擾能力，大大提高了測量精度和可靠性，固體粉塵和液體都可以監(jiān)測。

電容式E+H物位計(jì)：高溫、高壓條件下的物位測量。防塵、防掛料、防蒸汽、防冷凝。

E+H物位計(jì)是一種新型的電容式連續(xù)測量物位儀表，由于采用射頻技術(shù)和微機(jī)技術(shù)解決了傳統(tǒng)電容式E+H物位計(jì)溫漂大、標(biāo)定難、怕粘附的難題。

可廣泛應(yīng)用于各行業(yè)中液體及固體料倉物位的連續(xù)測量。

特別是高溫、強(qiáng)腐蝕、強(qiáng)粘附、粉塵大的環(huán)境下進(jìn)行測量，選擇該E+H物位計(jì)是的。

電容式E+H物位計(jì)

高溫、高壓條件下的物位測量。防塵、防掛料、防蒸汽、防冷凝。

物位開關(guān)

用于檢測顆粒狀固體、漿料和界面的預(yù)定液位。超聲方法或高靈敏度電容式測量。

微波E+H物位計(jì)使用的微波頻率有三個頻段：C波段(5.8～6.3GHz)、X波段(9～10.5GHz)、K波段(24～26GHz)。制造商根據(jù)自己的技術(shù)及國家批準(zhǔn)的頻率來設(shè)計(jì)產(chǎn)品。

物位測量中的微波一般是定向發(fā)射的，通常用波束角來定量表示微波發(fā)射和接收的方向性。波束角和天線類型有關(guān)，也和使用的微波頻率(波長)有關(guān)。

對于常用的圓錐形喇叭天線來說，微波的頻率越高，波束的聚焦性能越好，即波束角小，在實(shí)際使用中這是十分重要的，低頻微波E+H物位計(jì)有較寬的波束，如果安裝不得當(dāng)，將會收到內(nèi)部結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的較多的虛假回波，例如：采用4"喇叭天線的26GHz雷達(dá)的典型波束角為8°，而5.8GHz 的典型波束角為17°。并且，微波的頻率越高，其喇叭尺寸也可以做的越小，更易于開孔安裝。還沒有頻率高于K波段(24—26GHz)的微波(雷達(dá))E+H物位計(jì)。

而X波段雷達(dá)由于沒有明顯的應(yīng)用特點(diǎn)，而在各大物位廠商的雷大物位技術(shù)發(fā)展中趨于被淘汰?，F(xiàn)今物位測量領(lǐng)域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內(nèi)的充滿粉塵和擾動的加料狀態(tài)下的料倉。相關(guān)技術(shù)的儀表例如電容或?qū)Рɡ走_(dá)TDR在放料時物位下降時會受到很強(qiáng)的張力負(fù)載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經(jīng)常有埋錘的問題，需要經(jīng)常維修，大多數(shù)其他機(jī)械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統(tǒng)的能力。 高頻的調(diào)頻雷達(dá)技術(shù)尤其適合這種大型固體料倉的物位測量!

現(xiàn)今的高頻雷達(dá)一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達(dá)E+H物位計(jì)，雷達(dá)的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達(dá)使用更小的天線。而FMCW調(diào)頻連續(xù)波微波E+H物位計(jì)發(fā)射和接受信號是同時的，相同時間內(nèi)發(fā)射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現(xiàn)象。因此固體測量中高頻的調(diào)頻雷達(dá)能提供準(zhǔn)確、可靠的測量，并在例如化工行業(yè)中的PP粉末、PE粉末等介質(zhì)中也有良好應(yīng)用。但由于技術(shù)限制，現(xiàn)今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達(dá)E+H物位計(jì)。

也有使用5.8GHz ~ 10GHz的低頻雷達(dá)測量固體，但由于其較低的頻率、較長的波長其發(fā)射波不容易被漫反射，在高粉塵工況下會導(dǎo)致很多的二次或多次回波，干擾和噪聲很大，因此固體粉料測量中逐漸被淘汰。

3D物位掃描儀、電容式E+H物位計(jì)、射頻式E+H物位計(jì)（電容原理）、靜壓式E+H物位計(jì)（嚴(yán)格來講不算物位儀表）、浮子式E+H物位計(jì)、超聲波E+H物位計(jì)、磁至伸縮式液位計(jì)、雷達(dá)（微波）E+H物位計(jì)，射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)

3D物位掃描儀

介可視3D物位掃描儀是采用三個天線陣列傳輸?shù)皖l脈沖，并接收從筒倉或儲存容器內(nèi)物料返回的脈沖波。J可視物位監(jiān)測儀使用這三個天線不僅測量每個方波的時間差/距離，而且還測量回波的方向。介可視3維超聲波E+H物位計(jì)數(shù)字信號處理器采樣、分析接收到的回波信號，為儲存物的料位和體積提供非常精確的測量，并可在遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)屏幕上顯示容器內(nèi)物料真實(shí)分布的三維圖像。的粉塵穿透技術(shù)使得過程測量和庫存控制達(dá)到了的精度。概述tokidapm料位計(jì)是一種能夠?qū)ι⒀b固體和粉體提供有效、精確測量的設(shè)備，不論物料的類型或產(chǎn)品特征，儲存筒倉或容器的類型和尺寸，以及苛刻的儲存環(huán)境，都能實(shí)施有效測量。

雷達(dá)E+H物位計(jì)

雷達(dá)E+H物位計(jì)采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進(jìn)行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。對人體及環(huán)境均無傷害，讓顧客買智能雷達(dá)E+H物位計(jì)買的放心，買的值得。雷達(dá)E+H物位計(jì)還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點(diǎn)，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的考慮，都是不錯的選擇。

阻旋E+H物位計(jì)

阻旋E+H物位計(jì)具有耐高溫，測量結(jié)果準(zhǔn)確，抗干擾強(qiáng)等特點(diǎn)，他還具有防抖性能，防塵密封性能和較高的性價比。因此，對于完成一些高溫作業(yè)，高溫阻旋E+H物位計(jì)成了當(dāng)之無愧的選擇。

射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)

射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)通用性強(qiáng),可抗粘附,探頭可拆,耐高低溫,并且具有智能診斷等，因此射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)可應(yīng)用于各種導(dǎo)電和非導(dǎo)電介質(zhì)的測量。并且它的控制器與探頭之間沒有電纜連接，探頭可拆，隨時可以將控制器拆除更換維修，不影響進(jìn)出物料。

音叉E+H物位計(jì)

音叉E+H物位計(jì)不受泡沫、渦流、氣體的影響，適用于各種料倉固體物料料位以及各種容器內(nèi)液位的定點(diǎn)報(bào)警或控制，而且多種型號可以適合不同場合的應(yīng)用。音叉E+H物位計(jì)的工作原理是通過安裝在音叉基座上的一對壓電晶體使音叉在一定共振頻率下振動。當(dāng)音叉與被測介質(zhì)相接觸時，音叉的頻率和振幅將改變，這些變化由智能電路來進(jìn)行檢測，處理并將之轉(zhuǎn)換為一個開關(guān)信號。所以，音叉E+H物位計(jì)不僅適用于固體物料，也適用于液體介質(zhì)的測量。

超聲波E+H物位計(jì)

超聲波E+H物位計(jì)又分為很多型號，比如防腐超聲波E+H物位計(jì)，固體式超聲波料位計(jì)，固一體式超聲波料位計(jì)等。它們具有高精度，高穩(wěn)定性能，較強(qiáng)抗干擾能力，發(fā)射角小，發(fā)射頻率高，防過壓防雷擊等功能?？膳c進(jìn)口超聲波E+H物位計(jì)（超聲波液位計(jì)）相媲美。

26G雷達(dá)E+H物位計(jì)

傳感器是26G高頻雷達(dá)式物位測量儀表，測量最大距離可達(dá)70米。天線被進(jìn)一步優(yōu)化處理，新型的快速的微處理器可以進(jìn)行更高速率的信號分析處理，使得儀表可以用于：反應(yīng)釜或固體料倉非常復(fù)雜的測量條件。