目錄:上海奧析科學儀器有限公司>>合金分析儀>>測鍍層X熒光光譜儀>> TRF5000測鍍層X熒光光譜儀
測鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測
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