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磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。

型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查...

M1型磁粉檢測試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時，驗證工件表面磁場強度的大小與方向，驗證磁粉探傷的綜合性能。

A型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢...

D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作D型磁粉靈敏度試片用于連續(xù)法磁粉探傷時，驗證工作表面磁場強度的方向與大小，驗證磁粉...

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

TD型 磁場指示器(亦稱八角試塊)，是用電爐銅焊將八塊低碳鋼與銅片焊在一起構(gòu)成的，有一個非磁性的手柄，用途與標(biāo)準(zhǔn)試片基本相同，但比試片經(jīng)久耐用，操作簡便。

B型 直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊(亦稱12孔試塊)或直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊，直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～...

E型磁粉探傷試塊(3孔試塊)與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個孔...

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場件號：519630 型號：KSC-230件號：521048 型號：KSC-430說明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚...

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場件號：519630 型號：KSC-230件號：521048 型號：KSC-430說明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚...

與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個圓，可切割開，單獨使用件號：519631型號：KSC-4-230說明：小型I試片，每片試片有4個基圓，缺陷深度為...

不同深度的I試片用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個不同深度的同心圓環(huán)型號：KSCT-234說明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，...

型號：KSC4-234不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸

八角試塊檢測鐵金屬的缺陷時，八角試塊有助于確定磁場強度的方向。

磁粉試棒在兩個方向上有粗細不一的人工表面和次表面缺陷滿足和超過大部分工業(yè)和軍用對于人工試片的標(biāo)準(zhǔn)，包括MIL-STD-271

工具鋼環(huán)型試塊鉆有模擬次表面缺陷的孔，在不同的磁化電流水平下，形成表面顯示，滿足ASTME1444的要求，AS5282認(rèn)證合格。

連續(xù)法試塊在濕法臥式探傷機上，快速、方便的查驗磁化工藝的正確性。如果電流和磁懸液濃度合適，試塊上會顯示裂紋。