安科瑞 鮑靜君
高溫試驗(yàn)/ Dry heat test因?yàn)楦邷貛缀鯇?duì)所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對(duì)于暴露于高溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于高溫會(huì)改變其組成材料的物理特性，因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)損害。
高溫試驗(yàn)僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
方法標(biāo)準(zhǔn)：
●GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》
●IEC 60068-2-2《Environmental testing-Part2-2:Tests-Test B:Dry heat》
試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/span>
溫度范圍: -50℃～+200℃
溫度均勻度: ≤2℃
濕度范圍: 0%～100%R.H.
濕度誤差: +2/-3%R.H.
樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)
應(yīng)用領(lǐng)域：
信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.
汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.
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