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摘要：提出用橢偏儀法測試了自制液晶空間光調(diào)制器（LCSLM）的相位調(diào)制色散特性．橢偏儀法具有光路簡單單，結(jié)果準(zhǔn)確，測試自動化等優(yōu)點(diǎn)，相比單色光源干涉儀測量方法更加簡單實(shí)用．結(jié)果表明，在短波長（450 nm）處，LCSI M 的相位調(diào)制能力為1．54λ（ λ=450 nm）．在長波長（800 nm）處,LCSLM 的相位調(diào)制能力為0．70λ（ λ=800 nm），與理論分析的色散特性基本一致．
關(guān)鍵詞：液晶；空間光調(diào)制器；色散；橢偏儀
中圖分類號：0753；TP217 文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A 文章編號：1004—4213（2007）06—1065 3 0 引言
在不同波長和電壓作用下，液晶空間光調(diào)制器具有不同的相位值．這種色散特性可以應(yīng)用在色散補(bǔ)償，白光波前校正，光通信等許多領(lǐng)域，具有十分廣泛的應(yīng)用前景．目前，對液晶色散特性的研究主要是對液晶雙折射△n和光強(qiáng)的研究，但沒有考慮到施加電壓后的相位色散特性．大多數(shù)相位都是通過干涉儀進(jìn)行測量，所以相位都是在單波長下測得的．干涉測量光路復(fù)雜，測試手段麻煩，而且對于色散相位測量需要通過引入分光儀產(chǎn)生單色光源，再對不同波長下的單色光源分別測量．本文提出用光譜型橢偏儀測量法進(jìn)行測量，該方法具有光路簡單，結(jié)果準(zhǔn)確，測試自動化等優(yōu)點(diǎn)．利用光譜型橢偏儀實(shí)現(xiàn)了液晶光調(diào)制器在450 nm 到800 nm 波長范圍內(nèi)的相位測量．
