IMLD-B型半導(dǎo)體式中空玻璃露點(diǎn)儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11944—2012規(guī)定的技術(shù)條件制造的一種儀器。用于檢測(cè)中空玻璃試樣內(nèi)表面在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件和方法情況下是否結(jié)露。
IMLD-B型半導(dǎo)體式中空玻璃露點(diǎn)儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11944—2012規(guī)定的技術(shù)條件制造的一種儀器。用于檢測(cè)中空玻璃試樣內(nèi)表面在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件和方法情況下是否結(jié)露。適用于大專(zhuān)院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)、使用單位以及相關(guān)檢測(cè)單位。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T11944-2012《中空玻璃》關(guān)于露點(diǎn)測(cè)定部分
IMLD-B型半導(dǎo)體式中空玻璃露點(diǎn)儀儀器特點(diǎn):
1. 采用半導(dǎo)體三級(jí)制冷的技術(shù),制冷的溫度可以精確設(shè)定和控制,制冷速度快,操作十分方便,不僅可以在試驗(yàn)室內(nèi)使用,而且可在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè),不需要使用容易揮發(fā)的干冰,使用方便且使用成本低廉。
2. 探頭和制冷機(jī)組可實(shí)現(xiàn)*分離,方便實(shí)用且不受試件方向限制。
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)全過(guò)程自動(dòng)控制,機(jī)箱和探頭由軟管連接,檢測(cè)時(shí)探頭的工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。
4. 采用pt100溫度探頭,測(cè)量精度高,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
5.溫度值控制采用微機(jī)溫控PID調(diào)節(jié)技術(shù),控溫精度高,溫度穩(wěn)定性高。
IMLD-B型技術(shù)指標(biāo):
1. 測(cè)量探頭工作溫度:-60℃~-40℃
2. 測(cè)量探頭直徑:50mm
3. 數(shù)顯溫度計(jì)測(cè)量范圍:-65℃~ +50℃(注:測(cè)量范圍可調(diào))
4. 溫度分辨率: 1℃
5. 試件尺寸:510mm×360mm
6. 控制箱尺寸:470mm×550mm×700mm
7. 試驗(yàn)環(huán)境:溫度:23℃±2℃ 相對(duì)濕度:30%~75%RH
8. 試驗(yàn)時(shí)間
原片玻璃厚度/毫米 接觸時(shí)間/分鐘
≦4 3
5 4
6 5
8 7
≧10 10