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相關(guān)設(shè)備數(shù)顯磁性測(cè)厚儀

測(cè)厚儀應(yīng)用：
◆薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

◆涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

◆超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

◆激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

◆X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

用途：
該測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

參數(shù)：
◆測(cè)量范圍： O-200μm。
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
◆測(cè)量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

測(cè)厚儀原理分類：
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：
◆點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
◆面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：
◆激光測(cè)厚儀
◆超聲波測(cè)厚儀
◆涂層測(cè)厚儀
◆X射線測(cè)厚儀
◆白光干涉測(cè)厚儀
◆電解式測(cè)厚儀