納米粒度儀SZ-100V2，能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量，一臺(tái)設(shè)備、三種功能，可對(duì)每個(gè)測(cè)量參數(shù)進(jìn)行高靈敏度、高精度的分析。

納米技術(shù)是一門交叉性很強(qiáng)的綜合學(xué)科，研究的內(nèi)容涉及現(xiàn)代科技的廣闊領(lǐng)域。納米科學(xué)與技術(shù)涵蓋納米化學(xué)、納米材料學(xué)、納米生物學(xué)、納米電子學(xué)、納米加工學(xué)、納米力學(xué)等 。這七個(gè)相對(duì)獨(dú)立又相互滲透的學(xué)科和納米材料、納米器件、納米尺度的檢測(cè)與表征這三個(gè)研究領(lǐng)域。納米材料的制備和研究是整個(gè)納米科技的基礎(chǔ)。

粒徑測(cè)量范圍0.3nm~10µm。

納米粒度儀SZ-100V2采用動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 原理測(cè)量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測(cè)量，該系列可準(zhǔn)確測(cè)量低至ppm 級(jí)低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實(shí)現(xiàn)對(duì)小體積樣品的測(cè)量。

Zeta電位測(cè)量范圍–500~+ 500mV。

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測(cè)量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過(guò)Zeta電位可預(yù)測(cè)和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對(duì)于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測(cè)量范圍1×10 3 ~ 2 ×10 7Da。

通過(guò)測(cè)量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過(guò)德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的絕對(duì)分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測(cè)量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時(shí)也可以用于測(cè)量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

使用單臺(tái)設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量。

Zeta 電位樣品池可防止樣品對(duì)其造成污染。樣品池容量（容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會(huì)受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。