詳細(xì)介紹
3650-CX SoC測(cè)試系統(tǒng)
主要特色:
- 50/100MHz測(cè)試工作頻率
- 256個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
- 16/32 MW vector 記憶體
- 16/32 MW pattern instruction 記憶體
- Multi-site 測(cè)試可達(dá) 32 sites
- 16個(gè) DPS 通道
- 8個(gè) PMU 通道
- Per-Pin 時(shí)序頻率測(cè)試單位
- zui高可選購(gòu)1024M bit x 4 CH scan depth
- 可選購(gòu)記憶體測(cè)試用ALPG
- 高達(dá) 16 high-voltage pins
- 16 個(gè)高性能 DPS 通道
- Windows® XP操作環(huán)境
- C++ 程式語(yǔ)言與圖形人機(jī)介面設(shè)計(jì)
- 採(cǎi)用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
- 與周邊設(shè)備相容性高
- All-in-One小型化氣冷式機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì),節(jié)省佔(zhàn)地面積
- Cable Mount / Direct Mount
應(yīng)用範(fàn)圍
- MCU/MCU + 嵌入式記憶體
- NAND Flash Controller
- PC I/O
- Switch ICs
- 智慧型電源管理裝置
- 混合訊號(hào)、數(shù)位式、類(lèi)比式 ICs
- ADC/DAC/CODEC ICs
- 各類(lèi)消費(fèi)性產(chǎn)品IC
- 適用工程研發(fā)、晶粒測(cè)試及 Final Test
- 電源 IC
- LED 驅(qū)動(dòng) IC
Chroma 3650-CX實(shí)現(xiàn)高性?xún)r(jià)比的IC測(cè)試系統(tǒng)
3650-CX採(cǎi)用All-In-One的小型化設(shè)計(jì),除了擁有相當(dāng)競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)價(jià)格之外,並具備高準(zhǔn)確性與高生產(chǎn)力。因此,能夠降低客戶(hù)的測(cè)試成本與提升IC產(chǎn)品的利潤(rùn)。3650-CX具備多樣化的測(cè)試能力與強(qiáng)大的軟體工具,能夠用來(lái)測(cè)試包含MCU,NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC,Switch,LED驅(qū)動(dòng)IC,以及Power IC和SoC等產(chǎn)品。
強(qiáng)大且功能完整的3650-CX系統(tǒng)軟體 - CRISP
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-CX 的軟體測(cè)試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),是一個(gè)結(jié)合工程開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè)試機(jī)臺(tái)管理模組。透過(guò)親切的圖形人機(jī)介面的設(shè)計(jì),CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯(cuò)工具,包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等軟體模組,可滿(mǎn)足研發(fā)/測(cè)試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需求與產(chǎn)線(xiàn)人員量產(chǎn)時(shí)的需求。
All-in-One小型化機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)節(jié)省佔(zhàn)地面積
3650-CX將所有的測(cè)試儀器模組與機(jī)臺(tái)的電源系統(tǒng)全部整合在單一個(gè)測(cè)試頭的空間裡,並且採(cǎi)用氣冷式的設(shè)計(jì)。透過(guò)如此高整合度的小型化設(shè)計(jì),可以大幅減少機(jī)臺(tái)的佔(zhàn)地面積,以節(jié)省整體的測(cè)試成本。
週邊設(shè)備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面 (TTL & GPIB) , 可進(jìn)行與晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī),包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。