3280 Test-In-Tray測(cè)試分類機(jī)

主要特色：

• 整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類機(jī)功能
• 平行測(cè)試120個(gè)micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測(cè)試時(shí)間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測(cè)功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結(jié)果資訊
• 小機(jī)臺(tái)體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設(shè)備
• 3rd Party測(cè)試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測(cè)試介面
• SD卡資料寫(xiě)入模組

Chroma 3280採(cǎi)用創(chuàng)新的技術(shù)整合SD卡測(cè)試機(jī)與 自動(dòng)分類機(jī)的功能，並利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達(dá)到大量平行測(cè)試的能力。透過(guò)支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數(shù)測(cè) 試的功能，3280為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來(lái)了一 個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試方法，而這高效率的測(cè)試方法也為 客戶帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺(tái)的設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺(tái)於測(cè)試廠之佔(zhàn)地面積。

對(duì)於低價(jià)的消費(fèi)性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，製造商也會(huì)極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費(fèi)性產(chǎn)品在成品測(cè)試中之一 大挑戰(zhàn)。對(duì)於SD卡類產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類製造商了解在SD卡的製程 中必須採(cǎi)用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因?yàn)閽?cǎi)用KGD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測(cè)試中對(duì)於測(cè)試項(xiàng)目的要 求，只需針對(duì)成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測(cè)，而不需要再對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測(cè) 試。

Chroma 3280整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類機(jī)的功 能，並採(cǎi)用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，滿足採(cǎi)用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)的大幅降低，因 此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測(cè)試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測(cè)物置於IC托盤(pán)中直接測(cè) 試的測(cè)試方式。利用這樣的測(cè)試方法，可以大幅 節(jié)省傳統(tǒng)的測(cè)試方法因自動(dòng)分類機(jī)在進(jìn)行測(cè)試 時(shí)，必須以機(jī)器手臂夾取每個(gè)待測(cè)元件所需花取 的索引時(shí)間。因此，提供了一個(gè)zui有效率的測(cè)試 方法。在Chroma 3280中,對(duì)於120個(gè)SD卡進(jìn)行測(cè) 試時(shí)所需花費(fèi)的索引時(shí)間大約只有10秒鐘。

高平行測(cè)試能力 : Chroma 3280配備了一個(gè)專屬 的SD卡測(cè)試機(jī)巢 (Test Hive)，此一測(cè)試機(jī)巢提供 了能夠同時(shí)測(cè)試120個(gè)micro SD卡的測(cè)試能力。