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安柏 AT510X1電阻測(cè)試儀

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上海同倍檢測(cè)科技有限公司
2023-12-21 13:23:59
上海市
1526

【簡(jiǎn)單介紹】

AT510X1 是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制的嵌入式電阻測(cè)試儀。專為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的，定制量程，從10µΩ～40kΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。

【詳細(xì)說(shuō)明】

AT510X1儀電阻測(cè)試

AT510X1 是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制的嵌入式電阻測(cè)試儀。專為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的電阻測(cè)試儀，定制量程，從10μΩ～40kΩ，zui大顯示3999數(shù)。受益于安柏電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。
AT510X1 是小型的，嵌入機(jī)柜安裝，上下極限設(shè)置，具備PLC觸發(fā)接口，PASS/FAIL輸出。

AT510X1嵌入式技術(shù)規(guī)格

路數(shù)	任意路數(shù)組合
測(cè)量參數(shù)	直流電阻
基本準(zhǔn)確度	0.1%
測(cè)量范圍	10μΩ ～ 40kΩ
信號(hào)源	zui大電流：<1A
量程	定量程
測(cè)試速度	20次/秒
顯示結(jié)果	直讀
zui大讀數(shù)	3999
校正	多路短路清零
比較器	內(nèi)置比較器，PASS/FAIL分選結(jié)果顯示和IO輸出
標(biāo)配接口	內(nèi)置Handler接口
測(cè)試端	四端測(cè)試

AT510X1嵌入式性能特征

●	校正功能：短路清零功能。
●	比較器（分選）功能：內(nèi)置比較器，PASS/FAIL分選結(jié)果顯示和IO輸出。
●	四端測(cè)試
●	內(nèi)置Handler接口。

AT510X1嵌入式應(yīng)用

●	測(cè)量各種高、中、低值電阻器
●	各種開(kāi)關(guān)接觸電阻
●	漆包線電阻
●	接插件接觸電阻
●	繼電器線包和觸點(diǎn)電阻
●	變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻
●	焊點(diǎn)接觸電阻
●	導(dǎo)線電阻
●	車、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻
●	印制版線條和孔化電阻
●	表征機(jī)電元件的低阻特性
●	金屬探傷等。


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