低對(duì)比度分辨率測(cè)試板
產(chǎn)品銷售編號(hào)：20220812-04
產(chǎn)品銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
定厚度的圓形純鋁板構(gòu)成，其上加工有一組不同深度的圓孔，構(gòu)成不同的低對(duì)比度規(guī)格，用于射線低對(duì)比度分辨力的檢測(cè)。使用檢測(cè)模體時(shí)，將模體置于X 射線與探測(cè)器之間，X射線束垂直入射，曝光后觀察影像，調(diào)節(jié)觀察條件以獲得測(cè)試結(jié)果。
低對(duì)比度分辨力的確定:調(diào)整好窗寬、窗位后,在顯示器屏幕上觀察圖像,直到能識(shí)別小孔徑

低對(duì)比度分辨率測(cè)試板

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定厚度的圓形純鋁板構(gòu)成，其上加工有一組不同深度的圓孔，構(gòu)成不同的低對(duì)比度規(guī)格，用于射線低對(duì)比度分辨力的檢測(cè)。使用檢測(cè)模體時(shí)，將模體置于X 射線與探測(cè)器之間，X射線束垂直入射，曝光后觀察影像，調(diào)節(jié)觀察條件以獲得測(cè)試結(jié)果。請(qǐng)您咨詢固安縣雙玉儀器有限公司

低對(duì)比度分辨力的確定:調(diào)整好窗寬、窗位后,在顯示器屏幕上觀察圖像,直到能識(shí)別小孔徑組,并且該組孔的數(shù)目沒(méi)有增加也沒(méi)有減少(一般為5個(gè)),則該組孔的孔徑即為得的低對(duì)比度分辨力。

射線探傷是利用放射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來(lái)判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法不可見(jiàn)光，是一種具有較短波長(zhǎng)的電磁波。當(dāng)射線穿透被檢驗(yàn)的金屬時(shí)，由于原子對(duì)射線的吸收與散射作用，射線的強(qiáng)度受到削弱，材料厚度愈大，強(qiáng)度減弱愈多。

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