線性壓電納米位移臺MF30系列 參考價：面議
線性壓電納米位移臺MF30系列，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應(yīng)用環(huán)境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺MF40-25A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺MF40-25A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應(yīng)用環(huán)境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺ML-15A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-15A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應(yīng)用環(huán)境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺ML-23A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-23A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應(yīng)用環(huán)境，是小空間內(nèi)大行程高精度的定位的優(yōu)先選擇產(chǎn)品。支持定制納米...
低溫恒溫器系統(tǒng) 參考價：面議
低震動干式液氦光學(xué)低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導(dǎo)熱隔震，實(shí)現(xiàn)樣品臺納米級的機(jī)械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動影響，產(chǎn)品設(shè)計(jì)安裝在光學(xué)隔震平臺上。
低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
低溫液氮探針臺 LN-4H-06產(chǎn)品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進(jìn)口分子泵組、全旺程真空規(guī)、智能溫控儀等組成。
手動探針臺系統(tǒng) 參考價：面議
手動探針臺系統(tǒng)，可測試晶圓尺寸:最大4英寸樣品臺行程:100mm*100mm移動分辨率:~0.1mm樣品臺旋轉(zhuǎn)范圍:360度低漏電底柵接口，標(biāo)準(zhǔn)Triax 輸出...
ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
ZP3-4 微納探針臺包含4個壓電三軸探針臂，每個三軸配備1個可拆卸式電學(xué)探針接口，可在毫米級尺度上進(jìn)行宏觀運(yùn)動并實(shí)現(xiàn)納米尺度上的微觀運(yùn)動。
SEM納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)動操...
室溫半自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
室溫半自動探針臺 TZ-H-06室溫自動探針臺，高可靠性探針臺系統(tǒng)，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子， 電子，機(jī)電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機(jī)電/MEMs，生物...
干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點(diǎn)，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或者額...
壓電物鏡NF100LA 參考價：面議
壓電物鏡NF100LA采用壓電陶瓷驅(qū)動的納米級物鏡掃描臺，內(nèi)部使用無摩擦及空回的柔性較鏈導(dǎo)向機(jī)構(gòu)，確保了掃描臺優(yōu)秀的運(yùn)動精度。
超高真空微型光柵尺SMG26 參考價：面議
體積小、結(jié)構(gòu)緊湊超高真空微型光柵尺SMG26特點(diǎn)，體積小，結(jié)構(gòu)緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達(dá)100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，...
真空組件及配件 參考價：面議
真空組件及配件，各種類型都有，可定制真空饋通，本頁面未找到您需要的產(chǎn)品請聯(lián)系客服。
線性壓電納米位移臺ML-37A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-37A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應(yīng)用環(huán)境，是小空間內(nèi)大行程高精度的定位的優(yōu)先選擇產(chǎn)品。支持定制納米...
多種旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價：面議
多種旋轉(zhuǎn)位移臺可實(shí)現(xiàn)高精度及高分辨率的開環(huán)/閉環(huán)控制，適用于大氣及真空環(huán)境下工作。
隧道顯微鏡 參考價：面議
掃描隧道顯微鏡STM（Ultrascan LT-100），掃描探針顯微鏡（STM）為代表的超高真空設(shè)備廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究中，主要進(jìn)行對表面有關(guān)或者在表面發(fā)生的所...
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng) 參考價：面議
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，可用于機(jī)械解理的各種二維材料的轉(zhuǎn)移及二維材料范德華異質(zhì)結(jié)的堆疊，尤其適用于二維材料的精準(zhǔn)轉(zhuǎn)角調(diào)控。
半自動、全自動臺階儀 參考價：面議
半自動、全自動臺階儀。JS100B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時探針掃描時可實(shí)時觀察掃描區(qū)域。JS2000...
手動臺階儀 JS10B 參考價：面議
國產(chǎn)手動臺階儀 JS10B，穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量，采用金剛石探針，無畸變的觀察樣品區(qū)，實(shí)時觀察掃描區(qū)域，突破三個核心技術(shù)，國內(nèi)研發(fā)生產(chǎn)，便于售后服務(wù)?！局С侄ㄖ?..
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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