應(yīng)力雙折射 參考價(jià)：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds l...
應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測(cè)量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺(tái)。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)...
應(yīng)力雙折射檢測(cè) 參考價(jià)：面議
在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到，我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè)，它可以是方形的，也可以是生長(zhǎng)的，然后被鋸成硅片...
光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量 參考價(jià)：面議
光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間；平臺(tái)設(shè)計(jì)-使可測(cè)量面積盡可能大；強(qiáng)大的自動(dòng)化-質(zhì)量階段和硬件正常運(yùn)行時(shí)間。
美國(guó)Hinds Instruments 參考價(jià)：面議
美國(guó)Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測(cè)量技術(shù)于1999年推出，型號(hào)為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價(jià)值的測(cè)量雙折射的能力...
穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)中采用四個(gè)光彈性調(diào)制器(PEM)，150XT Mueller偏振計(jì)可以在短時(shí)間內(nèi)同時(shí)測(cè)量所有十六個(gè)穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hind...
殘余應(yīng)力檢測(cè) 參考價(jià)：面議
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品，用于殘余應(yīng)力檢測(cè)。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量，也可...
殘余應(yīng)力測(cè)量 參考價(jià)：面議
該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進(jìn)探測(cè)和解調(diào)電子來(lái)測(cè)量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個(gè)偏振狀態(tài)相對(duì)于另一個(gè)偏振狀態(tài)的光延遲測(cè)量結(jié)果是90°。...
Hinds 參考價(jià)：面議
美國(guó)Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測(cè)量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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