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BeamPeek
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更新時(shí)間:2024-09-03 14:05:56瀏覽次數(shù):444次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)SP503U-1550 熒光粉涂層近紅外相機(jī)Ophir
產(chǎn)品介紹
BeamPeek™ 系統(tǒng)可進(jìn)行實(shí)時(shí)光束輪廓分析,包括焦點(diǎn)尺寸和位置監(jiān)控,以及綠光和近紅外范圍內(nèi)增材制造 (AM) 激光器的光束焦散和功率測(cè)量。它跟蹤這些參數(shù)隨時(shí)間的變化,以幫助維護(hù)制造部件的質(zhì)量和可重復(fù)性。BeamPeek™ 集成了激光光束輪廓儀相機(jī)、功率計(jì)、光束收集器、光束分束器和光學(xué)器件,為工業(yè)環(huán)境中的增材制造激光分析提供全包解決方案。
BeamPeek™ 軟件專為滿足增材制造行業(yè)現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)人員的需求而開(kāi)發(fā)。它可以用最少的用戶輸入測(cè)量增材制造的基本參數(shù)。
BeamPeek 可在 1kW 功率下進(jìn)行長(zhǎng)達(dá) 2 分鐘的連續(xù)測(cè)量,并采用被動(dòng)冷卻,無(wú)需風(fēng)扇或通過(guò)可互換光束收集盒進(jìn)行水/空氣冷卻。其工業(yè)設(shè)計(jì)使其易于集成到生產(chǎn)線中并進(jìn)行激光特性分析,而不會(huì)干擾生產(chǎn)過(guò)程。
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品名稱 : BeamPeek
光譜范圍 : 532 nm, 1030-1080 nm
最小光斑尺寸 : 34.5 µm
功率范圍 : 10-1000 W
焦距 : 150-800 mm
功率計(jì)校準(zhǔn) : NIST traceable calibration ±3%
光束輪廓 : ISO 11146 Measurements
CE 符合性 : Yes
UKCA 符合性 : Yes
中國(guó) RoHS 符合性 : Yes
軟件
BeamPeek
BeamPeek 軟件旨在滿足增材制造領(lǐng)域技術(shù)人員的需求。它為增材制造行業(yè)提供符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束焦散和功率測(cè)量的關(guān)鍵參數(shù)分析。
BeamPeek 工具
BeamPeek 溫度傳感器讀數(shù)、焦平面和光軸位置的軟件
常見(jiàn)問(wèn)題
1、相機(jī)傳感器/焦平面位于哪里?
與 BeamCheck 不同,BeamCheck 的焦平面設(shè)置使得當(dāng)激光焦點(diǎn)位于床面時(shí),相機(jī)傳感器處于焦點(diǎn)中,而 BeamPeek 相機(jī)傳感器距離底座/機(jī)床約 70 毫米(每個(gè)設(shè)備的準(zhǔn)確值單獨(dú)校準(zhǔn))。要使光束聚焦在相機(jī)傳感器上,機(jī)床必須向下移動(dòng)校準(zhǔn)值。這種設(shè)置的原因是改進(jìn)了功率處理:更高的最大功率和更長(zhǎng)的高功率曝光時(shí)間。
2、BeamPeek 需要定期校準(zhǔn)嗎?
是的,因?yàn)?BeamPeek 包含 Ophir 常規(guī)功率計(jì)。
3、如果功率值高于或曝光時(shí)間超過(guò)允許的最大值,BeemPeek 會(huì)受到嚴(yán)重?fù)p壞嗎?我如何知道設(shè)備是否損壞?
BeamPeek 在設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了過(guò)載、功率或曝光時(shí)間等因素;如果超出了建議值,客戶除了可以進(jìn)行功能測(cè)試外,還可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的目視檢查:拆除光束轉(zhuǎn)儲(chǔ)托盤、檢查保護(hù)窗的清潔度(可以拆除并清除由于功率密度非常高或曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)而產(chǎn)生的排氣)、拆除并檢查擴(kuò)散可互換鏡頭,并在拆除鏡頭的情況下透過(guò)系統(tǒng)光圈查看,以驗(yàn)證光學(xué)器件的完整性(以免功率過(guò)高)。
4、獲取功率測(cè)量結(jié)果的最短等待時(shí)間是多久?
對(duì)于帶有熱頭的功率計(jì),功率測(cè)量的最短響應(yīng)時(shí)間為 3 秒。
5、如果使用 NIR 激光波長(zhǎng) 1070nm,則應(yīng)選擇哪個(gè) PM 波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)量 1064nm 還是 1080nm?
選擇接近激光波長(zhǎng)的波長(zhǎng),在這種情況下 1064 比 1080 更接近。
高功率光束分析儀和功率測(cè)量系統(tǒng)BeamPeek
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