PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

PCT加速老化試驗機適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性，氣密性。

PCT加速老化試驗機特點:

u 具有自動加水功能并且在試驗過程中水過低時自動補水。

u 試驗過程自動運轉至完成結束，使用簡便。 ??

u 溫度控制：LED數字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯

示。 ??

u 計時器：LED數字型計時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗*。 ??

u 精準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度。 ??

u 運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到蒸氣品質。

u 一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。 ??

u 內經拋光處理經久耐用美觀  

執(zhí)行與滿足標準:

u IEC60068-2-66；u JESD22-A102-B；u EIAJED4701；u EIA/JESD22；

技術規(guī)格：