首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 會議回顧丨理學(xué)中國&華普通用XRF應(yīng)用培訓(xùn)班圓滿落幕！
2025年3月26日至28日，由理學(xué)電企儀器（北京）有限公司與深圳華普通用科技有限公司聯(lián)合主辦的第24期“X射線熒光光譜分析技術(shù)及應(yīng)用"培訓(xùn)班在廣州美豪麗致酒店圓滿落幕。
本次培訓(xùn)旨在提升X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)的應(yīng)用水平，促進(jìn)分析技術(shù)的創(chuàng)新發(fā)展，邀請了全國各地的儀器用戶及行業(yè)專家，共計(jì)60余人參與。
通過理論授課與互動(dòng)交流相結(jié)合的形式，在三天的學(xué)習(xí)中，助力客戶們深入掌握XRF技術(shù)的核心知識與實(shí)踐技能。
本次培訓(xùn)課程設(shè)計(jì)系統(tǒng)全面，涵蓋XRF技術(shù)的基礎(chǔ)理論、儀器操作及實(shí)際應(yīng)用，具體內(nèi)容如下：
WDXRF基本原理
講師從X射線的產(chǎn)生、熒光原理、波長色散型XRF（WDXRF）儀器原理出發(fā)，深入淺出地解析了技術(shù)核心，為后續(xù)課程奠定理論基礎(chǔ)。
WDXRF硬件結(jié)構(gòu)及維護(hù)
講述探測器、分光晶體、X射線管等關(guān)鍵部件的功能與維護(hù)要點(diǎn)，掌握常見故障的排查方法。
圖譜識別與定性半定量分析
結(jié)合元素譜圖例，了解如何通過特征峰識別元素種類，并利用軟件工具快速完成半定量分析。
基體效應(yīng)與數(shù)學(xué)修正
針對XRF分析中基體效應(yīng)對結(jié)果的干擾，課程詳細(xì)講解了經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論α系數(shù)法等修正模型的應(yīng)用場景與操作技巧。
XRF樣品制備標(biāo)準(zhǔn)化流程
從粉末壓片法到熔融法制樣，講師強(qiáng)調(diào)了樣品均勻性、粒度控制等關(guān)鍵因素。
分析條件優(yōu)化與自定義方法開發(fā)
指導(dǎo)學(xué)員根據(jù)樣品特性調(diào)整電壓、電流、測量時(shí)間等參數(shù)，并建立個(gè)性化的分析方法庫，顯著提升了儀器適用性
本次培訓(xùn)通過理論與實(shí)踐深度融合，為XRF技術(shù)的推廣與應(yīng)用奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
未來，我們將不定期舉辦技術(shù)交流會，推動(dòng)X射線熒光光譜技術(shù)在礦產(chǎn)、有色金屬等領(lǐng)域的創(chuàng)新應(yīng)用，期待下次再見！
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