數(shù)字式濁度儀   型號：TR-WGZ-1

● 濁度介紹
　　濁度，即水的混濁程度，由水中含有微量不溶性懸浮物質(zhì)，膠體物質(zhì)所致，ISO標準所用的測量單位為FTU（濁度單位），F(xiàn)TU與NTU（濁度測定單位）*。
● 用途
　　可供水廠、電廠、工礦企業(yè)、實驗室及野外實地對水樣渾濁度的測試。
● 主要精度指標及測量范圍
測量范圍 0.0-20.0NTU (FTU) 20-150 NTU (FTU)
分辨率 0.1與1 NTU
準確度 5% F.S
工作環(huán)境溫度 0-35℃
電源電壓 220±20V，50HZ或8節(jié)5號電池
● 儀器外形、結(jié)構(gòu)
1、外殼 2、量程指示燈
3、保險絲座 4、電源插座
5、交直流拔動開關(guān) 6、樣品室蓋
7、數(shù)顯窗 8、調(diào)零手輪
9、量程選擇鍵 10、電源開關(guān)
數(shù)字式濁度儀●儀器工作原理
　　用一定的入射光強透過同一厚度不同濁度的水樣時，將得到不同的透射光強，其消光值和濁度成正比，儀器通過計量透射光強，并經(jīng)過電路處理，即得到水樣的濁度值。
●儀器主要特點
水樣杯具有防霧性能：故能在梅雨季節(jié)也能對水樣進行濁度測定。
交直流兩用，便于攜帶。

產(chǎn)品名稱：高溫環(huán)境熱壓力監(jiān)視記錄器 熱輻射儀 黑球溫度計  產(chǎn)品型號：TD-1369 中國臺灣 高溫環(huán)境熱壓力監(jiān)視記錄器/熱輻射儀/黑球溫度計 型號：TD-1369  產(chǎn)品特點  高溫環(huán)境熱壓力監(jiān)視記錄器TD-1369 應(yīng)用: 礦場：煤礦場、石油礦場、金礦場...等提煉場：石化工業(yè)、鋼廠、鋁廠...等制造場：玻璃廠、造船廠、磚廠、水泥廠...等   主要特性  特點:  高溫環(huán)境區(qū)域監(jiān)視記錄器  快速WBGT測量以評估環(huán)境產(chǎn)生之熱壓力  風速測量  Z大值、Z小值記錄功能  自動、手動數(shù)據(jù)記憶功能  讀值鎖定功能  自動關(guān)機功能  規(guī)格:  測量項目 輻射球、干球、濕球溫度及風速   測量計算項目 室內(nèi)幅射球濕球(WBGTin)、室外幅射球濕球(WBGTout)、熱指標及風冷指標   溫度測量 感應(yīng)器:NTC   范圍:-5℃ 至 +100℃ (23℉ 至 212℉)   分辨率:0.1℃/ 0.1℉   準確度:±0.5℃/ ±0.9℉   風速測量 感應(yīng)器:加熱式白金電阻   范圍:0至20m/s   分辨率:0.1m/s   準確性：±(4%讀值 + 0.1m/s)   記憶容量 手動:99組   自動:65000組   操作條件 -5℃至60℃ (23℉至140℉) , 0%RH至100%RH (未凝結(jié))   電源 一只9V電池或交流電源轉(zhuǎn)換器   電池壽命 約8小時   尺寸 221(高) × 154(寬) × 53(厚)mm   重量 約1000g   附件 說明書、電池、手提攜帶盒、RS-232纜線、CD軟件、交流電源轉(zhuǎn)換器、10米感應(yīng)器纜線、2"輻射球、6"軸射球

產(chǎn)品名稱：多功能數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： ST2258C

多功能數(shù)字式四探針測試儀 型號： ST2258C

概述

      ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 
      ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測試儀成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，大分類10類。 
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。   
      測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》   
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。   
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 

 基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率（括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量級） 
    電    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    電 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□）   
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級 

4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（高）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg