德國尼克斯QNIX4200/QNIX4500涂層測厚儀：QNix1500、QNIX4200、QNIX4500、QNIX7500、QNIX8500、QNIX1200涂層測厚儀的價(jià)格、報(bào)價(jià)、維修、安裝調(diào)試軟件升級等請聯(lián)系德國尼克斯*區(qū)銷售維修中心：蘇州澤升*密機(jī)械儀器有限*，我們將竭誠為你服務(wù)。

德國尼克斯QNIX4200/QNIX4500涂層測厚儀實(shí)物圖及技術(shù)參數(shù)：

選型：

1.QNIX4200型：FE鐵基*體式0-3000UM 測磁性基材上非磁性涂層

2.QNIX4500型：FNF兩用型(磁性非磁性)*體式 0-3000UM測磁性基材上非磁性涂層+非磁性金屬上非導(dǎo)電性涂層。

3.Qnix4200P3型 (分體式 Fe鐵基探頭0-3000um) 

4.Qnix4200P5型 (分體式 Fe鐵基探頭0-5000um) 

5.QNIX4500P3型 (分體式 Fe/Nfe兩用探頭 0-3000/0-3000um) 

6.QNIX4500P5 (分體式 Fe/Nfe兩用探頭  0-5000/0-3000um) 

7.QNIX4200-5mm(*體式 FE鐵基探頭0-5000um)

8.QNIX4500-5mm(*體式 FE/NFE兩用探頭 鐵基0-5000um 非鐵基0-3000um)

QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層，鍍層　
·只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
·體積小巧，操作方便

主要技術(shù)參數(shù)：
·測量范圍：磁性基體（Fe模式）:0-3000μm
·基體厚度：Fe:0.2mm
·*度：0-50um:≤±1μm，50-1000μm:≤±1.5%讀數(shù)，1000-3000μm≤±3%讀數(shù)
接觸面：10×10mm
·曲率半徑：凸面：3mm，凹面：25mm
·電源：2節(jié)1.5V干電池
·外形尺寸：100×60×27mm，重量：110g 

QNix4500涂鍍層測厚儀
型號：QNix4500(QuaNix4500)
*：德國尼克斯
產(chǎn)地:德國
QuaNix4500德國尼克斯涂鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
零位穩(wěn)定：
*有涂層測厚儀測量前都要求校準(zhǔn)零位，
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是測量*的前提。
*臺(tái)好的測厚儀校零后，可以長時(shí)間保持零位不漂移，
確保*測量
QuaNix4500德國尼克斯涂鍍層測厚儀無需校準(zhǔn)：
多數(shù)測厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測量某*范圍厚度，要用某*范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性*度。不*操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同*工件在不同溫度下測量會(huì)得出很大的誤差。*以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以不同溫度下的測量*度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的*直接影響測量的*度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：
使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的和提*。


詳細(xì)描述：
1.測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁等；
2.測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

•只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
•體積小巧，操作方便
•*機(jī)雙用，自動(dòng)識別基體
•*度*
• 價(jià)格便宜

     1 簡單快速測量
     2 不需要校準(zhǔn)
     3 自動(dòng)開關(guān)機(jī)
     4 程FE:0-5000um NFE:0-3000um
     5 雙用探頭，性價(jià)比*
     6 霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定
     7 測量時(shí)聲音同步
     8 紅寶石耐磨頭，壽命長
     9 背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
    10自動(dòng)識別測量基體
    11 分體式探頭，滿足不同的測量環(huán)境 

磁性/非磁性金屬基體:用于4500
測量范圍: 0-3000um
測量*度: 0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100.
測量面積: 10x10mm
曲率: 凸半徑 5mm
凹半徑 25mm
基材厚度:鐵0.2mm 非鐵0.05mm
溫度范圍: 0-60度
顯示: LCD
供電形式: 2個(gè)1.5V電池
體積: 100X60X27mm
重量: 約110克

(涂層測厚儀,鍍層測厚儀,漆膜測厚儀,薄膜測厚儀,磁性測厚儀,渦流測厚儀,油漆測厚儀,粉末涂層測厚儀)
 

德國尼克斯涂鍍層測厚儀(無線探頭) 
型號：QNix8500(QuaNix8500) 
*：德國尼克斯
產(chǎn)地：德國
詳細(xì)描述：
QNix 8500涂鍍層測厚儀是具有廣泛使用范圍的組合式儀器，可提供存儲(chǔ)和統(tǒng)計(jì)功能。
Qnix8500涂層測厚儀（無線探頭）是德國automation* 推出的 *款探頭可與主機(jī)無線傳輸?shù)漠a(chǎn)品，測量時(shí)主機(jī)和探頭可以實(shí)現(xiàn)無線通訊，這樣在實(shí)際應(yīng)用中，操作將更加便捷，大大提*測量效率，另外由于探頭的尺寸較小，*以可滿足*些狹縫，細(xì)管內(nèi)部，型腔等空間較小部位的測量，在實(shí)際應(yīng)用中有更多的現(xiàn)實(shí)意義。

特點(diǎn)： 
只需調(diào)零，無需校準(zhǔn) 
測量*度* 
*體分體通用 
可配多種探頭 
中英文菜單操作 
智能化 
帶存儲(chǔ)，并可連計(jì)算機(jī)對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析 
可連接薄鍍層探頭，對*薄的鍍層厚度*測量。

可選探頭：
Fe鐵基探頭： 0－2000μm 、 0－5000μm 
NFe非鐵基探頭: 0－2000μm 、 0－5000μm 
NFe/Fe兩用探頭：0－2000μm 、 0－5000μm 
無線傳輸探頭 
薄鍍層探頭 

Fe質(zhì)探針可檢測*有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。
NFe質(zhì)探針檢測*有絕緣涂層厚度，例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。

QNix 8500獲得多項(xiàng)*huanli和質(zhì)量認(rèn)證。
DIN 50981，50984
ISO 2178，2360，2808
BS 5411（3，11），3900 （c，5）
ASTM B499，D1400

QNix7500涂鍍層測厚儀*體分體通用，可通過更換探頭來滿足不同的測量需求。探頭可直接與主機(jī)連接，進(jìn)行*體化測量，也可通過探頭電纜線來與主機(jī)連接，進(jìn)行分體測量。分體測量操作簡單，可很大程度上避免誤操作產(chǎn)生的誤差。該儀器主機(jī)有普通型和記憶性兩種，探頭分為磁性探頭、渦流探頭及雙用探頭，探頭的測量范圍有0-2mm和0-5mm兩種，用戶在購買該產(chǎn)品時(shí)要根據(jù)需求選購合適的探頭，如有不明白的地方敬請來電聯(lián)系。
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：
•　只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
•　測量*度*
•　*體分體通用
•　可配多種探頭
•　記憶型帶存儲(chǔ)功能

可選探頭：
•　Fe鐵基探頭：    0－2000μm    0－5000μm
•　NFe非鐵基探頭:  0－2000μm    0－5000μm
•　NFe/Fe兩用探頭：0－2000μm    0－5000μm

QNix8500主機(jī) 
基 體：Fe、NFe、FeNFe 
探頭形式： *體、 分體 
顯 示： LCD液 晶 顯 示 
測量范圍： 0－2000μm、0－5000μm 
測量*度： 0－2000μm： ≤±2％2000－5000μm：≤±3％ 
基體： Fe：10mm×10mm 。NFe：6mm×6mm 
基體： Fe：0.2mm、 NFe：0.05mm 
曲率： 凸半徑：5mm 凹半徑：30mm 
存儲(chǔ)功能： 100個(gè)讀數(shù)，1個(gè)數(shù)據(jù)組 
統(tǒng)計(jì)功能 ：平均值，大值，小值，標(biāo)準(zhǔn)偏差 。

(涂層測厚儀,鍍層測厚儀,漆膜測厚儀,薄膜測厚儀,磁性測厚儀,渦流測厚儀,油漆測厚儀,粉末涂層測厚儀)

德國尼克斯系列涂鍍層測厚儀特點(diǎn)
零位穩(wěn)定：*有涂層測厚儀測量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是測量*的前提。*臺(tái)好的測厚儀校零后，可
          以長時(shí)間保持零位不漂移，確保*測量。
無需校準(zhǔn)：多數(shù)測厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測量某*范圍厚度，要用某*范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性*度。不*操作煩瑣，
          而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。尼克斯（QNIX）測厚儀可以全范圍內(nèi)的線性*度，無需校準(zhǔn)。
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同*工件在不同溫度下測量會(huì)得出很大的誤差。*以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以不同溫度下的測
          量*度。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的*直接影響測量的*度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的和提*。
單探頭量程大：0－5mm