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一、  介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

二、  測試原理
采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

本測試裝置是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。


三、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀的技術(shù)指標
1．Q值測量范圍：2～1023
2．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
3．電感測量范圍：自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能4.5nH-100mH 分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。
4．電容直接測量范圍：1～460pF
5．主電容調(diào)節(jié)范圍： 30～500pF
6．電容準確度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信號源頻率覆蓋范圍100KHz-70MHz （雙頻對向搜索 確保頻率不被外界干擾）另有GDAT-C 頻率范圍200KHZ-100MHz

8、型號頻率指示誤差：1*10-6 ±1
Q值合格指示預置功能范圍：5～1000
Q值自動鎖定，無需人工搜索

9．Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

10．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

11．產(chǎn)品配置：
a.測試主機一臺；
b.電感一套；
c.夾具一 套