Chroma 3380真無線藍(lán)芽耳機(jī)測(cè)試解決方案

      為因應(yīng)未來IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì)，Chroma以此發(fā)展方向提供新一代3380系列VLSI測(cè)試機(jī)臺(tái)，包含3380D、3380P、3380機(jī)型，根據(jù)不同的腳位數(shù)或并行測(cè)試(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測(cè)試解決方案。

     此系列機(jī)型之一的VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380，具有zuigao1280數(shù)字通道管腳、256 VI、彈性化架構(gòu)、以及完整選項(xiàng)功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同測(cè)的市場(chǎng)驅(qū)勢(shì)，具備1024數(shù)字通道管腳可并行測(cè)試1024個(gè)晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC電源(VI source)外，彈性化可調(diào)整的架構(gòu)還可提供Mini & Macro LED驅(qū)動(dòng)IC、CMOS影像感測(cè)器(CIS)、及3D影像測(cè)試等解決方案；以利涵蓋更廣泛的IC測(cè)試功能與應(yīng)用范圍。

Chroma 3380真無線藍(lán)芽耳機(jī)測(cè)試解決方案主要特色：

• 50/100 MHz 測(cè)試頻率
• 50/100 Mbps 數(shù)據(jù)速率
• 1024 數(shù)字通道管腳 (可以測(cè)到1280 數(shù)字通道管腳)
• 高達(dá)1024 sites 并行測(cè)試
• 32/64/128 pattern 記憶體
• 16M capture memory per pin
• 多樣化 VI 電源
• 彈性化硬體架構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel trim/match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• 高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
• 支援STDF工具
• 測(cè)試program/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
• AD/DA功能板卡 *可選配
• SCAN向量存儲(chǔ)深度(zui高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測(cè)試功能可供記憶體IC用 *可選配
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 軟件介面與3380P/3360P相同
• 人性化的 Windows 7操作系統(tǒng)

    Chrom3380VLSI測(cè)試系統(tǒng)可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins)，以因應(yīng)更高的產(chǎn)能需求。 3380系列VLSI測(cè)試系統(tǒng)無論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上，長(zhǎng)期以來皆已于中國(guó)市場(chǎng)獲得廣泛印證。

應(yīng)用范圍

• 微控制器單元 (MCU)
• ADC/DAC混合信號(hào)IC
• 邏輯IC
• ADDA
• ALPG
• Smart card
• Mini & Macro LED驅(qū)動(dòng)IC
• CMOS影像感測(cè)器 (CIS)
• 電源IC (Class D IC)
• 消費(fèi)性IC
• LED驅(qū)動(dòng)IC