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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,能源,綜合 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
手持式涂層測(cè)厚儀規(guī)格參數(shù)
TT220g | ||
測(cè)頭類(lèi)型 | F1 | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | |
測(cè)量范圍 | 0~1250μm | |
低限分辨率 | 1μm | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1） |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3%)H+1] | |
測(cè) 試 條 件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 |
zui小面積直徑mm | Φ7 | |
基本臨界厚度mm | 0.5 | |
工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ |
濕度 | 20%~90% | |
磁場(chǎng) | 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境 | |
電源 | AAA型堿性電池1.5V兩節(jié) | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主機(jī)） | |
重量 | 120g | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AA型堿性電池 | |
手持式涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)
采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性；
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
具有欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
手持式涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
涂層測(cè)厚儀 | TT220G |
標(biāo)準(zhǔn)配置 |
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手持式涂層測(cè)厚儀其它說(shuō)明
涂層測(cè)厚儀·探頭參數(shù)表
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |||||
測(cè)量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||
測(cè)量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
基體zui小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
zui小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無(wú)限制 | |
涂層測(cè)厚儀·探頭選擇參考表
基體與覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 | 非磁性的有色金屬覆蓋層 | |||
覆蓋層厚度 | 覆蓋層厚度 | 覆蓋層厚度 | 覆蓋層厚度 | ||
磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑 | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm |
被測(cè)面積的直徑 | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | |
有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑 | N1 型測(cè)頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm | ||
非金屬基體 | 被測(cè)面積的直徑 | - | - | CN02 型測(cè)頭10～200µm | |