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如何選擇一款適用型的Seebeck系數(shù)及熱電材料測試儀

閱讀:303      發(fā)布時(shí)間:2019-08-12
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如何選擇一款適用型的Seebeck系數(shù)及熱電材料測試儀

關(guān)鍵詞:Seebeck系數(shù),熱電,BKTEM-Dx

 

   背景分析:

?熱電材料是一種能將熱能和電能相互轉(zhuǎn)換的功能材料,1823年發(fā)現(xiàn)的塞貝克效應(yīng)和1834年發(fā)現(xiàn)的珀耳帖效應(yīng)為熱電能量轉(zhuǎn)換器和熱電制冷的應(yīng)用提供了理論依據(jù)。隨著空間探索興趣的增加、醫(yī)用物理學(xué)的進(jìn)展以及在地球難于日益增加的資源考察與探索活動,需要開發(fā)一類能夠自身供能且無需照看的電源系統(tǒng),熱電發(fā)電對這些應(yīng)用尤其合適。

現(xiàn)狀:

    熱電性能分析系統(tǒng)是我國熱電材料的設(shè)備,是國家材料計(jì)劃中前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來的熱電材料測試儀,其測試性能遠(yuǎn)超越國內(nèi)外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測試,是目前國內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。

由我國自主研發(fā)的BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是目前市場上即經(jīng)濟(jì)又適用的賽貝克系數(shù)測試儀,該儀器已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了全自動化測試,性能基本同日本的ZEM-3相當(dāng),而且可調(diào)整的空間更大。即可滿足我們國內(nèi)的科研要求,又可以滿足教學(xué),是精密測量設(shè)備。

 

BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)相比于國內(nèi)其他廠家的設(shè)備,性能好,價(jià)格實(shí)惠。不像別的設(shè)備價(jià)格虛高,做一款實(shí)在的科研設(shè)備,為我們國家的教育提供技術(shù)支持一直是我們的目標(biāo)。

 

未來展望:

熱電材料塞貝克效應(yīng)和帕爾帖效應(yīng)發(fā)現(xiàn)距今已有100余年的歷史,無數(shù)的科學(xué)家已對其進(jìn)行了深入而富有成效的研究和探索,取得了輝煌的成果。隨著研究的不斷深入,相信熱電材料的性能將會進(jìn)一步提高,必將成為我國新材料研究領(lǐng)域的一個(gè)新的熱點(diǎn)。在今后的熱電材料研究工作中,研究重點(diǎn)應(yīng)集中在以下幾個(gè)方面:

(1)利用傳統(tǒng)半導(dǎo)體能帶理論和現(xiàn)代量子理論,對具有不同晶體結(jié)構(gòu)的材料進(jìn)行塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)率和熱導(dǎo)率的計(jì)算,以求在更大范圍內(nèi)尋找熱電優(yōu)值ZT更高的新型熱電材料。

(2)從理論和實(shí)驗(yàn)上研究材料的顯微結(jié)構(gòu)、制備工藝等對其熱電性能的影響,特別是對超晶格熱電材料、納米熱電材料和熱電材料薄膜的研究,以進(jìn)一步提高材料的熱電性能。

(3)對己發(fā)現(xiàn)的高性能材料進(jìn)行理論和實(shí)驗(yàn)研究,使其達(dá)到穩(wěn)定的高熱電性能。

(4)加強(qiáng)器件的制備工藝研究,以實(shí)現(xiàn)熱電材料的產(chǎn)業(yè)化。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)如下 :

產(chǎn)品介紹:

   BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是我國熱電材料的設(shè)備,是國家材料計(jì)

劃中前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來的熱電材料

測試儀,其測試性能遠(yuǎn)超越國內(nèi)外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材

料同時(shí)也可以用于薄材料的測試,是目前國內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)

備。

對于熱電材料的研究,熱電性能測試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:

該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出,自動出來測試數(shù)據(jù)和測試報(bào)告。

一、適用范圍:

1、地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身分析軟件,獨(dú)立分析,過程自動控制,界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。

二、技術(shù)特點(diǎn):

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

  • 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
  • 每次可測試1-3個(gè)樣品.
  • 采用數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
  • 采用*的采集儀,測試報(bào)告自動生成。
  •  

測量溫度:室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選

同時(shí)測試樣品數(shù)量:1個(gè),2個(gè),3個(gè) 可選

控溫精度:0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)

升溫速率:0.01 100K/min,極大得提高測試時(shí)間

測量原理:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測量范圍:塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率:塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm

測量精度:塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%

樣品尺寸:塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:50 nm

熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm

   流: 0 to 160 Ma

   氛:0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓:單相,220V,

夾具接觸熱阻:≤0.05 m2K/W

 

 

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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

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