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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,電氣 |
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BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀介紹:
關(guān)鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率,電阻率,n或p型熱電材料π對熱電轉(zhuǎn)換效。
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是是其對熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。對于熱電材料的研究,熱電性能測試的試驗數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,主要原理和特點如下:
該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
測試原理:
原理:
(1)通過測量派對或器件開路電壓和短路電流求得派對或器件的輸出功率。
(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計測量通過熱電派對或器件的熱流量,其溫差電熱流量計的工作原理是:當(dāng)對溫差電制冷片通電時,其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經(jīng)過校準(zhǔn)的通過熱量計的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計的熱流量,即為通過派對或器件的熱流。
(3)大輸出功率與通過的熱流相比求得轉(zhuǎn)換效率。
適用范圍:
1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。
2、地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
4、擁有自身分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。
技術(shù)特點:
解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。
溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
每次可測試1-3個樣品。
采用高級數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
具備真空和Ar氣保護兩種工況選項。
主要技術(shù)參數(shù):
BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 | |
測量溫度 | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ |
同時測試樣品數(shù)量 | 1個 | 2個 | 3個 |
控溫精度 | 0.5K(溫度波動:≤±0.1℃) | ||
熱流量測量 | 采用溫差電熱流計測量流經(jīng)試樣卻沒有被轉(zhuǎn)換的熱流 | ||
測量原理 | 塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法 | ||
測量范圍 | 塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù):10nOhm | ||
測量精度 | 塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5% | ||
樣品尺寸 | 方條形:2-3×2-3mm×10-23mm長 | ||
熱電偶導(dǎo)距 | ≥6mm | ||
電流 | 0to160mA | ||
氣氛 | 減壓He(具備真空和Ar氣保護兩種工況選項,真空工況下,真空度:≤6×10-2Pa) | ||
加熱電極相數(shù)/電壓 | 單相,220V | ||
熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率 | 0.01W~10W | ||
夾具接觸熱阻 | ≤0.05m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理 |
單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
圖2雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)