JWDL-1型金屬電阻率測試儀
關(guān)鍵詞：金屬電阻，導電膜，金屬涂層
JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專業(yè)設(shè)備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設(shè)備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專門測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試范圍能夠更好的為你選配四探針測試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時間長。WDL-1型金屬電阻率測試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設(shè)備，也是材料生產(chǎn)廠家和科研的重要設(shè)備。
一、主要應(yīng)用領(lǐng)域：
1、硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
2、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻
3、電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量
4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
測量范圍
1、電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
3、方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
4、電壓量程： 20.00mV～2000mV
5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
6、誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
7、材料尺寸：直徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，
方測試臺直接測試方式180mm×180mm，
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,
測量方位: 軸向、徑向均可
8、探頭類型：
9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
12、外形尺寸：主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）
凈 重：≤2.5kg
導電金屬箔材
金屬
銅金屬材料
我們專業(yè)提供功能材料測試設(shè)備及測試服務(wù)：
二、壓電材料制樣設(shè)備：PZT-JH10/4型壓電陶瓷極化裝置，PZT-JH20/1型粉末極化裝置
PZT-JH30/3型壓電陶瓷及薄膜綜合極化裝置，ZJ-D33-YP15型壓片機
三、介電材料測試裝置：GWJDN-600型四通道高溫介電測試儀，GWJDN-1000型四通道高溫介電測試儀
四：鐵電材料測測試儀：ZT-4A鐵電測試儀 ,FE-5000型變溫鐵電測試系統(tǒng)，ECM -150型電卡效應(yīng)測試系，DCD-100型儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)，
五、BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀
高溫功能材料測試設(shè)備：
GDPT-900A型高溫D33測試系統(tǒng)，GWJDN-1000型四通道高低溫介電測試儀，HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀，JGWDZ-1000型金屬高溫電阻測量系統(tǒng)，BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)），FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測量系統(tǒng)，TSDC/TSC--400 型熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)，GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng) ，HTGSRM-1000型高溫氣敏材料測量系統(tǒng)，PTC/NTC-500高溫熱敏電阻材料參數(shù)測量分析系統(tǒng)，HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀，PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng)，HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統(tǒng)，
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