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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料高溫電學(xué)測(cè)試儀>>型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀>> 提供CNAS計(jì)量認(rèn)證報(bào)告高溫電阻率測(cè)試儀

提供CNAS計(jì)量認(rèn)證報(bào)告高溫電阻率測(cè)試儀
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參考價(jià) 2500000
訂貨量 ≥1uL
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
2500000
≥1uL
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2024-10-21 16:53:27瀏覽次數(shù):756評(píng)價(jià)

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HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備,可以出具CNAS整體認(rèn)證的專(zhuān)業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備,該儀器采用使用方法多樣化,最大2000V,最快6.4ms的采集系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量,作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查,最高2×10^19 Ω顯示,最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路,

HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀(提供CNAS計(jì)量認(rèn)證)

關(guān)鍵詞:電阻率,體電阻,表面電阻,CNAS

      

HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備,可以出具CNAS整體認(rèn)證的專(zhuān)業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備,該儀器采用使用方法多樣化,最大2000V,最快6.4ms的采集系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量,作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查,最高2×10^19 Ω顯示,最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路,能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量,并且運(yùn)用在產(chǎn)線(xiàn)中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量。可實(shí)現(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn),高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。

一、主要用途:適用于新材料評(píng)估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗(yàn)

2、貼片電容的IR測(cè)量

3MLCC(多層陶瓷電容器)的絕緣測(cè)量

4、光伏電池薄膜的絕緣測(cè)量

5、噪音濾波器的絕緣(高阻)測(cè)量

6、液晶設(shè)備的絕緣測(cè)量

7、涂層(涂料)的表面電阻率測(cè)量

8、外殼的帶電度的測(cè)量

9、二極管的微笑泄漏電流測(cè)量

10、光電耦合器的初級(jí)/次級(jí)絕緣(高電阻)測(cè)量

11、打印機(jī)墨粉輥軸的絕緣測(cè)量

12、用于針對(duì)半導(dǎo)體廠(chǎng)家的絕緣密封件的評(píng)估試驗(yàn)

13、用于組裝在貼片機(jī)、分選機(jī)、自動(dòng)化設(shè)備中

一、產(chǎn)品特點(diǎn):

1、多種使用方法的超絕緣計(jì),提供CNAS計(jì)量合格證書(shū)

2、能夠作為IR表、靜電計(jì)等高電阻計(jì),以及作為皮安表這種微小電流計(jì)來(lái)使用,使用方法非常豐富的測(cè)量?jī)x器。

2、能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量,并且運(yùn)用在產(chǎn)線(xiàn)中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量2000V輸出

3、偏差1/60,抗噪音性能300通過(guò)全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合,大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從最小0.1V到最大1000V,能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

5、最快6.4ms的高速檢查高速檢查和最大50mA的預(yù)充電功能的組合可以實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛,耐高溫、抗氧化的測(cè)試夾具,提供CNAS計(jì)量合格證書(shū)

二、主要技術(shù)參數(shù):

1、體積電阻率和表面電阻率測(cè)試范圍104次方Ω.cm~1015次方Ω.cm;

2、測(cè)試電壓:10V50V、100V、250V、500V、1000V

3、電極材質(zhì):600℃不氧化,三電極尺寸為25mm(被保護(hù)電極直徑)、38mm(保護(hù)電極內(nèi)徑)、50mm(保護(hù)電極外徑),樣品厚度在3mm以?xún)?nèi);

3、測(cè)量精度:①電阻≤1010Ω時(shí),精度±5%;電阻>1010Ω時(shí),精度±10%;②電壓<100V時(shí),精度±5%,電壓≥100V時(shí),精度±2%;

2、溫度范圍;室溫~600℃;

3、控溫精度:溫度≤300℃,精度±1℃,溫度>300℃,精度±2℃;控溫設(shè)備需有測(cè)溫口;(能夠通過(guò)計(jì)量CNAS認(rèn)證)

4、測(cè)試軟件:①可設(shè)置連續(xù)升溫測(cè)試,得到不同溫度下體積電阻率、表面電阻率具體值,直接得到體積電阻率-溫度曲線(xiàn)、表面電阻率-溫度曲線(xiàn);

5、溫度精度:可設(shè)置在某一具體溫度點(diǎn)測(cè)試,得到體積電阻率、表面電阻率在不同時(shí)間點(diǎn)的具體值,直接得到體積電阻率-時(shí)間曲線(xiàn)、表面電阻率-時(shí)間曲線(xiàn);

5、電腦要求:windows10 系統(tǒng),內(nèi)存16G以上,CPU四核;

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min(不做計(jì)量要求);

7、能通氮?dú)猓瑴y(cè)試時(shí)在高溫和氮?dú)猸h(huán)境下測(cè)試;

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標(biāo)準(zhǔn);

10、排氣口有過(guò)濾裝置;

11、降溫要求:600℃降到室溫在1h以?xún)?nèi)((不做計(jì)量要求);

12、控溫設(shè)備的溫度精度和高阻計(jì)精度,具體要求為:①控溫設(shè)備溫度精度計(jì)量:需廠(chǎng)家找的第三方計(jì)量單位(CNAS認(rèn)證)到公司現(xiàn)場(chǎng)計(jì)量,溫度計(jì)量點(diǎn)至少包括125℃200℃、300℃、500℃、600℃;②高阻計(jì)電阻計(jì)量:廠(chǎng)家提供第三方計(jì)量報(bào)告(CNAS認(rèn)證),電阻計(jì)量點(diǎn)至少包括104Ω、107Ω、1010Ω、1013Ω、1015Ω;③高阻計(jì)電壓計(jì)量:廠(chǎng)家提供第三方計(jì)量報(bào)告

高溫絕緣電阻率運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。利用三電極測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性比較好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提升精度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

★減弱電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響



在超高阻、弱信號(hào)測(cè)量過(guò)程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會(huì)引起測(cè)量誤差。同時(shí)電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備,將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。以致影響弱信號(hào)的采集,推出的抗干擾模塊以及采用特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fA(10^-15 A)的測(cè)量分辨率。

★減弱不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能、數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽


自動(dòng)平均值是檢測(cè)電流的變化,并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能, 在查看測(cè)量結(jié)果的同時(shí)不需要改變?cè)O(shè)置。通過(guò)自動(dòng)排除充電電流的過(guò)渡響應(yīng)時(shí)或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大。電流輸入端口采用大口徑三軸連接器,是將內(nèi)部屏蔽連接至GUARD(COM)線(xiàn),外部屏蔽連接至GROUND3層同軸設(shè)計(jì)。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的安全性。

具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,符合絕緣材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。




                                  表面電阻和體電阻測(cè)試



                                保持溫度和階梯溫度

    

                                     2000V電壓阻值表




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